用于软光刻法的复合构图设备

    公开(公告)号:CN101427182B

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN200580013574.1

    申请日:2005-04-27

    Abstract: 本发明提供用于在基片表面上制作图案,特别是包含下述结构的图案的方法、设备和设备部件,所述结构在一维、二维或三维上具有所选定的长度为微米级和/或纳米级的零部件。本发明提供包含多个聚合物层的复合构图设备,用以在多种基片表面和表面形态上形成高分辨率图案,所述聚合物层各自具有选定的机械性能—例如杨氏模量和抗弯刚度,选定的物理尺寸—例如厚度、表面积和凸起图案的尺寸,以及选定的热性能—例如热膨胀系数。

    经高维数据分类的识别
    66.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101965588A

    公开(公告)日:2011-02-02

    申请号:CN200980000494.0

    申请日:2009-01-29

    CPC classification number: G06K9/00275 G06K9/6232 G06K9/627

    Abstract: 本文公开一种用于在存在遮挡时识别高维数据的方法,包括:接收包括遮挡且属于未知类的目标数据,其中,目标数据包括已知对象;采样多个训练数据文件,所述训练数据文件包括与目标数据的对象相同的对象的多个不同类;以及使用l1最小化,通过所采样的训练数据文件的线性叠加来标识目标数据的类,其中,具有最稀疏数量的系数的线性叠加用于标识目标数据的类。

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