增加对单事件翻转的抵抗力的储存电路及方法

    公开(公告)号:CN102737700A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210068609.3

    申请日:2012-03-12

    申请人: ARM有限公司

    IPC分类号: G11C7/10

    CPC分类号: G11C11/4125 G11C5/005

    摘要: 本发明涉及增加对单事件翻转的抵抗力的储存电路及方法。该储存电路具有第一储存区块,被配置为在至少一种操作模式下执行第一储存功能;以及第二储存区块,被配置为在至少一种操作模式下执行与第一储存功能不同的第二储存功能。配置电路响应于第二储存功能未被使用的预定操作模式,将第二储存区块配置为与第一储存区块并行操作。通过在两个储存区块之一未以其它方式正执行有用功能时并联地布置这两个储存区块,这实际上增加了仍正在执行有用储存功能的储存区块的大小,且因而增加了其对单事件翻转的抵抗力。此种做法有最小的面积及功耗开销,且提供了一种容易用于各种不同的顺序单元设计的小型储存电路。

    IC组件的瞬态触发保护
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101297451A

    公开(公告)日:2008-10-29

    申请号:CN200680039543.8

    申请日:2006-08-28

    发明人: H·J·比亚吉

    IPC分类号: H02H9/00

    CPC分类号: H02H9/046 G11C5/005

    摘要: 一个实施例提供用于保护集成电路(IC)(100)中至少一个组件的系统。该系统(102)包括串行电连接在所述IC的输入终端和所述至少一个组件(108)之间的断开元件(104)。所述断开元件被配置为具有第一状态以电连接所述终端到所述至少一个组件以及对应于高阻抗条件的第二状态,该高阻抗条件使所述终端相对于所述至少一个组件被电隔离开。控制系统(110)被配置为响应于所述终端处的输入信号变化率超过预定变化率而促使所述断开元件从所述第一状态转换到所述第二状态。

    基于电容的非易失性存储器

    公开(公告)号:CN106847318A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710059400.3

    申请日:2017-01-24

    发明人: 朱剑宇

    IPC分类号: G11C5/00 G11C5/14 G11C16/30

    CPC分类号: G11C5/005 G11C5/148 G11C16/30

    摘要: 本发明揭示了一种基于电容的非易失性存储器,包括:磁感应元件,用于检测磁场;信号处理电路,用于放大、滤波和做判断;寄存器,用于存储信号处理电路的输出SOUT;电源检测电路,用于通过产生的复位信号POR将寄存器的状态在芯片上电时固定地置为低电平,之后由系统时钟CLK定期根据SOUT的状态刷新;当芯片掉电后重新上电时,由于内部没有可以保持寄存器状态的NVM,芯片的寄存器和输出将总是被重置为低电平;电容,用于保存芯片内部寄存器的状态。本发明提出的基于电容的非易失性存储器,可降低芯片结构复杂度,降低成本。本发明存储器结构简单、使用方便、成本低廉;不需要像EEPROM或Flash中的特殊工艺层次,也不占用大量芯片面积,更不需要定期更换电池。