VERBINDUNGSEINRICHTUNG ZUM KONTAKTIEREN EINES HALBLEITER-BAUELEMENTES
    2.
    发明申请
    VERBINDUNGSEINRICHTUNG ZUM KONTAKTIEREN EINES HALBLEITER-BAUELEMENTES 审中-公开
    连接装置,用于接触半导体元件

    公开(公告)号:WO2003096417A1

    公开(公告)日:2003-11-20

    申请号:PCT/DE2003/000052

    申请日:2003-01-10

    CPC classification number: H01L23/488 H01L23/49548 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Verbindungseinrichtung zum Kontaktieren eines Halbleiter-Baulementes mit mindestens einem weiteren Bauteil, wobei die Verbindungseinrichtung mindestens einen sich in einer Längsrichtung erstreckenden metallischen Verbindungsstreifen (2) mit einem Kontaktbereich (7) zur Aufbringung auf einem Anschlussbereich (4) des Halbleiter-Bauelementes (3) aufweist. Um eine kostengünstig herstellbare Kontaktierung zu erreichen, die dennoch mit höheren Stromdichten belastbar ist, wird eine Verbindungseinrichtung vorgeschlagen, deren Kontaktbereich (7) strukturiert und gegenüber Spannungen, die in einer zu dem Anschlussbereich (4) parallelen Anschlussebene verlaufen, nachgiebig ausgebildet ist.

    Abstract translation: 本发明涉及一种连接装置用于半导体鲍勒Mentes其中所述连接装置至少在所述金属连接条带(2)具有用于应用的接触面积(7)的纵向方向延伸到终端部的部分(4)的半导体元件接触与至少一种另外的组分, (3)。 为了达到经济上可生产的接触,这仍然是装载有较高的电流密度下,连接装置被提出,(7),其在一延伸到所述端子部分(4)并联连接平面结构化和相反的电压形成的弹性,其接触面积。

    VORRICHTUNG ZUR MESSUNG EINER B-KOMPONENTE EINES MAGNETFELDES, MAGNETFELDSENSOR UND STROMMESSER
    3.
    发明申请
    VORRICHTUNG ZUR MESSUNG EINER B-KOMPONENTE EINES MAGNETFELDES, MAGNETFELDSENSOR UND STROMMESSER 审中-公开
    用于测量A B分量的磁场,或磁传感器AMMETER

    公开(公告)号:WO2002095423A2

    公开(公告)日:2002-11-28

    申请号:PCT/DE2002/001601

    申请日:2002-05-03

    IPC: G01R

    CPC classification number: G01R33/07 H01L43/065

    Abstract: Vorgeschlagen wird eine Vorrichtung (10), ein Magnetfeldsensor und ein Strommesser, wobei in einem Gebiet (20) eine Feldverteilung (50) eines ersten elektrischen Feldes derart vorgesehen ist, dass die x-Komponente des ersten elektrischen Feldes in X-Richtung betragsmässig monoton ansteigt.

    Abstract translation: 公开了一种装置(10),磁场传感器和流量计,其特征在于,第一电场的场分布(50)以这样的方式在一个区域(20)提供的,在X方向绝对值的第一电场的x分量单调增加 ,

    VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG VON TEMPERATUREN AN HALBLEITERBAUELEMENTEN
    4.
    发明申请
    VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG VON TEMPERATUREN AN HALBLEITERBAUELEMENTEN 审中-公开
    用于确定温度对半导体元件

    公开(公告)号:WO2002086432A1

    公开(公告)日:2002-10-31

    申请号:PCT/DE2002/001436

    申请日:2002-04-18

    CPC classification number: G01K11/00

    Abstract: Zur Bestimmung einer Temperatur an einem Halbleiterbauelement (1) wird eine Abfragelichtwelle (7) auf einen Messpunkt an dem Halbleiterbauelement eingestrahlt, eine von dem Messpunkt abgestrahlte Antwortlichtwelle (8, 8') erfasst und die Temperatur des Messpunkt anhand einer Temperaturabhängigen Eigenschaft (R) der Antwortlichtwelle (8, 8') ermittelt.

    Abstract translation: 为了确定一个半导体部件的温度(1)照射的查询光波(7)至所述半导体器件上的测量点,从测量点的响应光的轴(8,8“)所发出的光被检测和测量点的基础上的依赖于温度的特性(R)的温度 确定的响应光的轴(8,8“)。

    DEVICE FOR SENSING A MAGNETIC FIELD, A MAGNETIC FIELD METER AND AN AMMETER
    5.
    发明申请
    DEVICE FOR SENSING A MAGNETIC FIELD, A MAGNETIC FIELD METER AND AN AMMETER 审中-公开
    DEVICE FOR磁敏,磁性刀架和电流表

    公开(公告)号:WO02056045A2

    公开(公告)日:2002-07-18

    申请号:PCT/DE0104854

    申请日:2001-12-21

    CPC classification number: G01R33/06 G01R15/20

    Abstract: The invention relates to a device, a magnetic field meter and to an ammeter. The device is characterized in that it is provided with a first magnetic field sensor means (1, 101), a second magnetic field sensor means (201), and with a third magnetic field sensor means (301). A first output quantity (110) of the first magnetic field sensor means (101) is provided as a first input quantity (200). A second output quantity (120) of the first magnetic field sensor means (101) is provided as a second input quantity (300). The first input quantity (200) is provided as an input quantity for the second magnetic field sensor means (201), and the second input quantity (300) is provided as an input quantity for the third magnetic field sensor means (301).

    Abstract translation: 公开了一种设备,一个磁强计和安培计,其特征在于,该装置的特征在于,设置的第一磁场传感器装置(1,101),第二磁场传感器装置(201)和第三磁场传感器装置(301),其中,第一输出变量( 110设置)的第一磁场传感器装置(101)作为第一磁场传感器装置(101)作为第二输入变量(300),的第一输入变量(120)的方法,其中所述第一输入变量(200)(作为第二磁场传感器的输入变量装置提供201)和 其中,所述第二输入变量(300)被设置为用于所述第三磁场传感器装置(301)的输入变量。

    HALBLEITERBAUELEMENT
    9.
    发明申请
    HALBLEITERBAUELEMENT 审中-公开
    半导体部件

    公开(公告)号:WO2003096415A1

    公开(公告)日:2003-11-20

    申请号:PCT/DE2003/000376

    申请日:2003-02-10

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein einfach, schnell und dennoch sicher herstellbares Halbleiterbauelement, das insbesondere für Leistungsanwendungen verwend­bar ist und aufweist einen Halbleiter-Chip (2, 12), eine auf einer ersten Seite (2a) des Halbleiter-Chips (2, 12) ausgebildete unte­re erste auptelektrodenschicht (3, 13), eine auf der ersten Seite (2a) ausgebildete untere Steuerelektrodenschicht (4, 14), eine auf der ersten Seite (2a) zwischen der unteren ersten Hauptelektroden­schicht (3, 13) und der unteren Steuerelektrodenschicht (4, 14) ausgebildete Isolationsschicht (5, 15), die die untere erste Hauptelektrodenschicht-(3, 13) teilweise bedeckt, eine obere erste Hauptelektrodenschicht (6, 16), die auf der unteren ersten Hauptelektrodenschicht (3, 13) ausgebildet ist, eine obere Steuerelektrodenschicht (7, 17), die auf der unteren Steuerelektro­denschicht (4, 14) und der Isolationsschicht (5, 15) ausgebildet ist und sich auf der Isolationsschicht (5, 15) teilweise oberhalb der unteren ersteh Hauptelekt­rodenschicht (3, 13) erstreckt, und eine auf einer zweiten Seite (2b) des Halbleiter-Chips (2, 12) ausgebildete zweite Hauptelektrodenschicht (9, 19).

    Abstract translation: 本发明涉及一种简单,快速且还确保可生产半导体装置,其是用于功率应用中特别有用,并已形成在半导体芯片(2,12),在半导体芯片的第一侧面(2a)的(2,12)下 第一auptelektrodenschicht(3,13),一个在所述第一侧(2a)的形状的下部控制电极层(4,14),一个位于下侧的第一主电极层(3,13)和下控制电极层之间的第一侧(2a)的(4, 形成绝缘层(5,15)上14),所述下部第一Hauptelektrodenschicht-(3,13)部分地覆盖上部第一主电极层(6,16)(下侧的第一主电极层3,13)上形成,上 下部控制电极层(4,14)和所述绝缘层(5,15)上的控制电极层(7,17)和延伸的所述绝缘层(5,15)上部分之上的UNT 年长ersteh主电极层(3,13),和半导体芯片(2,12)形成的第二主电极层(9,19)的在第二侧(2b)的。

    DEVICE FOR MEASURING A B-COMPONENT OF A MAGNETIC FIELD, A MAGNETIC FIELD SENSOR AND AN AMMETER
    10.
    发明申请
    DEVICE FOR MEASURING A B-COMPONENT OF A MAGNETIC FIELD, A MAGNETIC FIELD SENSOR AND AN AMMETER 审中-公开
    用于测量A B分量的磁场,或磁传感器AMMETER

    公开(公告)号:WO02095423A3

    公开(公告)日:2003-04-03

    申请号:PCT/DE0201601

    申请日:2002-05-03

    CPC classification number: G01R33/07 H01L43/065

    Abstract: The invention relates to a device (10), a magnetic field sensor and an ammeter. According to the invention, a field distribution (50) of a first electrical field is provided in an area (20) whereby causing the magnitude of the x-component of the first electrical field to monotonously increase in the X-direction.

    Abstract translation: 公开了一种装置(10),磁场传感器和流量计,其特征在于,第一电场的场分布(50)以这样的方式在一个区域(20)提供的,在X方向绝对值的第一电场的x分量单调增加 ,

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