Abstract:
A substrate on which a silicon device is mounted in accordance with an embodiment of the present invention includes a plurality of protrusions extending upward from a top surface of the substrate and a solder layer formed on the top of the substrate such that the plurality of protrusions extends through the solder layer and a top portion of each protrusion of the plurality of protrusions is stamped down to be level with a top surface of the solder layer such that the silicon device is supported on the plurality of protrusions when placed on the substrate. The protrusions are preferably gouged up from the surface of the substrate with a needle like tool. A stamper tool is used to stamp the protrusions down to their desired height such that they are properly positioned to support the silicon device. The solder layer may be a solder pre-form or may be a layer of solder paste. The solder layer is heated to form liquid solder to bond the substrate and the silicon device, however, the protrusions support the silicon device to prevent movement thereof when the solder is in liquid form.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine Verbindungseinrichtung zum Kontaktieren eines Halbleiter-Baulementes mit mindestens einem weiteren Bauteil, wobei die Verbindungseinrichtung mindestens einen sich in einer Längsrichtung erstreckenden metallischen Verbindungsstreifen (2) mit einem Kontaktbereich (7) zur Aufbringung auf einem Anschlussbereich (4) des Halbleiter-Bauelementes (3) aufweist. Um eine kostengünstig herstellbare Kontaktierung zu erreichen, die dennoch mit höheren Stromdichten belastbar ist, wird eine Verbindungseinrichtung vorgeschlagen, deren Kontaktbereich (7) strukturiert und gegenüber Spannungen, die in einer zu dem Anschlussbereich (4) parallelen Anschlussebene verlaufen, nachgiebig ausgebildet ist.
Abstract:
Vorgeschlagen wird eine Vorrichtung (10), ein Magnetfeldsensor und ein Strommesser, wobei in einem Gebiet (20) eine Feldverteilung (50) eines ersten elektrischen Feldes derart vorgesehen ist, dass die x-Komponente des ersten elektrischen Feldes in X-Richtung betragsmässig monoton ansteigt.
Abstract:
Zur Bestimmung einer Temperatur an einem Halbleiterbauelement (1) wird eine Abfragelichtwelle (7) auf einen Messpunkt an dem Halbleiterbauelement eingestrahlt, eine von dem Messpunkt abgestrahlte Antwortlichtwelle (8, 8') erfasst und die Temperatur des Messpunkt anhand einer Temperaturabhängigen Eigenschaft (R) der Antwortlichtwelle (8, 8') ermittelt.
Abstract:
The invention relates to a device, a magnetic field meter and to an ammeter. The device is characterized in that it is provided with a first magnetic field sensor means (1, 101), a second magnetic field sensor means (201), and with a third magnetic field sensor means (301). A first output quantity (110) of the first magnetic field sensor means (101) is provided as a first input quantity (200). A second output quantity (120) of the first magnetic field sensor means (101) is provided as a second input quantity (300). The first input quantity (200) is provided as an input quantity for the second magnetic field sensor means (201), and the second input quantity (300) is provided as an input quantity for the third magnetic field sensor means (301).
Abstract:
A high voltage semiconductor module has a leadframe with spaced pads which is connected to a heat sink plate by a curable insulation layer on the top of the plate. Semiconductor die may be soldered to the leadframe pads before or after assembly to the plate. The insulation layer may be a curable epoxy or a B stage IMS plate.
Abstract:
Two DBC wafers have patterned first conductive surfaces which receive a semiconductor die in sandwich fashion. Lead frame terminally extending into the package interior and are connected to the die terminals. The outer conductive surfaces of each of the wafers are available for two-sided cooling of the semiconductor.
Abstract:
A power semiconductor package that includes at least two semiconductor devices electrically coupled to one another through a common metallic web.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein einfach, schnell und dennoch sicher herstellbares Halbleiterbauelement, das insbesondere für Leistungsanwendungen verwendbar ist und aufweist einen Halbleiter-Chip (2, 12), eine auf einer ersten Seite (2a) des Halbleiter-Chips (2, 12) ausgebildete untere erste auptelektrodenschicht (3, 13), eine auf der ersten Seite (2a) ausgebildete untere Steuerelektrodenschicht (4, 14), eine auf der ersten Seite (2a) zwischen der unteren ersten Hauptelektrodenschicht (3, 13) und der unteren Steuerelektrodenschicht (4, 14) ausgebildete Isolationsschicht (5, 15), die die untere erste Hauptelektrodenschicht-(3, 13) teilweise bedeckt, eine obere erste Hauptelektrodenschicht (6, 16), die auf der unteren ersten Hauptelektrodenschicht (3, 13) ausgebildet ist, eine obere Steuerelektrodenschicht (7, 17), die auf der unteren Steuerelektrodenschicht (4, 14) und der Isolationsschicht (5, 15) ausgebildet ist und sich auf der Isolationsschicht (5, 15) teilweise oberhalb der unteren ersteh Hauptelektrodenschicht (3, 13) erstreckt, und eine auf einer zweiten Seite (2b) des Halbleiter-Chips (2, 12) ausgebildete zweite Hauptelektrodenschicht (9, 19).
Abstract:
The invention relates to a device (10), a magnetic field sensor and an ammeter. According to the invention, a field distribution (50) of a first electrical field is provided in an area (20) whereby causing the magnitude of the x-component of the first electrical field to monotonously increase in the X-direction.