用于半导体器件和外部部件的三维封装

    公开(公告)号:CN114695316A

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202111611346.1

    申请日:2021-12-27

    Abstract: 本申请题为“用于半导体器件和外部部件的三维封装”。在所描述的示例中,一种装置包括:具有管芯安装部分(103)和引线部分(105)的封装衬底(图1,101);在封装衬底的管芯安装部分上方的至少一个半导体器件管芯(109),该半导体器件管芯在背离封装衬底的有源表面上具有键合焊盘(119);在至少一个键合焊盘与一个引线部分之间的电连接件(115);在至少一个键合焊盘上方的柱互连件(111),该柱互连件延伸远离半导体器件管芯的有源表面;以及覆盖封装衬底的一部分、半导体器件管芯、柱互连件的一部分和电连接件的介电材料(117),以形成封装半导体器件(100),其中柱互连件延伸穿过介电材料并且具有背离半导体器件管芯的末端,该末端从介电材料中暴露出。

    重建集成电路焊接机上照明条件的系统及方法

    公开(公告)号:CN1262386C

    公开(公告)日:2006-07-05

    申请号:CN01121605.0

    申请日:2001-05-23

    CPC classification number: H01L21/681

    Abstract: 一种计算机化的系统和方法,用于当准备将相连焊件加到从集成电路的焊盘上时重建从焊接机的照明条件。第一步,确定主焊接机上主电路的被照校准参考图象;分析这些数据以构成参考图象与焊接位置之间的关系;数据及关系被存入主文件。第二步,在从焊接机上,再生主参考图象数据,从而在这些图象基础上重建从焊接机的照明条件。第三步,产生在新建照明条件下从电路参考图象,并补偿校准参考。第四步,从电路的焊接位置和从焊接机的焊接程序被校正从而使相连焊件能被加到重新计算的正确焊接位置。

    自动化模拟和混合信号电路设计和验证

    公开(公告)号:CN115803746A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202180041596.8

    申请日:2021-06-07

    Abstract: 一种用于设计电路的技术,包括接收代表用于第一工艺技术的电路的数据对象(514),该电路包括第一子电路,该第一子电路包括以第一拓扑结构布置的第一电气元件和第二电气元件;通过将第一拓扑结构与存储的拓扑结构相比较来识别数据对象中的第一子电路(518),该存储的拓扑结构与该第一工艺技术相关联;识别与第一子电路的第一电气元件和第二电气元件相关联的第一物理参数值集;基于第一子电路的第一机器学习模型和识别出的物理参数集,确定第一子电路的一性能参数值集(520);基于所确定的该性能参数值集,将所识别出的第一子电路转换为用于第二工艺技术的第二子电路(522);并输出第二子电路(526)。

    多间距引线
    8.
    发明公开
    多间距引线 审中-公开

    公开(公告)号:CN112397470A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202010809625.8

    申请日:2020-08-13

    Abstract: 本申请题为“多间距引线”。在一些示例中,一种系统包括管芯和引线,该管芯具有从管芯的表面延伸的多个电连接器,并且该引线耦合至多个电连接器。该引线包括:第一导电构件(1010);堆叠在第一导电构件上的第一非焊料金属镀层(1014);堆叠在第一非焊料金属镀层上的电镀层(1020);堆叠在电镀层上的第二非焊料金属镀层(1008);以及堆叠在第二非焊料金属镀层上的第二导电构件(1000),第二导电构件比第一导电构件薄。该系统还包括模制件,以至少部分地包封管芯和引线。

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