对于电路可靠性老化的方法和装置

    公开(公告)号:CN104849647A

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN201410052000.6

    申请日:2014-02-17

    CPC classification number: G06F17/5036 G06F2217/76

    Abstract: 一种用于集成电路可靠性老化仿真的方法,包括:将所述目标时间段划分成N个阶段,包括第一阶段和第二阶段;获取可靠性模型的用于所述第一阶段的第一参数值;对于所述第一阶段,基于所述可靠性模型和所述第一参数值对所述电路进行第一仿真,以获取第一老化结果;获取所述可靠性模型的用于所述第二阶段的第二参数值;以及对于所述第二阶段,基于所述可靠性模型和所述第二参数值对所述电路进行第二仿真,以获取第二老化结果。

    用于对电路节点充电和放电的方法和电路

    公开(公告)号:CN102460581B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201080025282.0

    申请日:2010-05-12

    Inventor: P·H·派雷

    CPC classification number: H02M3/073 G11C11/413

    Abstract: 本发明公开了将电路节点(14)充电至第一预定电压的电压电路(10)和方法。被充电于电路节点(14)之上的第一预定电压在第一时间段期间被用于第一预定功能。一部分电荷由电路节点(14)移除到与该电路节点耦接的电路(21、108或116)。该部分电荷在第一时间段之后的第二时间段期间重用。在一种形式中,电压发生器(12)具有可配置二极管型晶体管(42-47),用于根据电路节点(14)究竟是被充电还是被放电而只沿着一个方向来传递电流。在另一种形式中,开关(106)为了电荷重用而与在参考端子与另一电路(108)之间的电路节点耦接。电荷重用使提高的功耗节省成为可能。

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