半导体封装件
    3.
    发明公开
    半导体封装件 审中-实审

    公开(公告)号:CN114334877A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202110997317.7

    申请日:2021-08-27

    发明人: 张喆容

    摘要: 一种半导体封装件包括多个半导体芯片。所述多个半导体芯片中的至少一个半导体芯片包括:半导体衬底,包括半导体层和钝化层,钝化层具有第三表面;背面焊盘,位于所述第三表面上;以及贯穿通路,穿透所述半导体衬底。所述背面焊盘包括电极焊盘部分和坝结构,所述电极焊盘部分位于所述第三表面上,所述坝结构在所述电极焊盘部分的一侧突出并围绕所述贯穿通路的侧表面。所述坝结构与所述贯穿通路的侧表面间隔开。

    半导体芯片的互连结构和包括该互连结构的半导体封装件

    公开(公告)号:CN114256220A

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN202111086297.4

    申请日:2021-09-16

    发明人: 马金希 张喆容

    摘要: 提供了一种半导体芯片的互连结构和半导体封装件。所述互连结构可以包括互连过孔件、下焊盘、导电凸块和上焊盘。互连过孔件可以布置在半导体芯片中。下焊盘可以布置在互连过孔件的通过半导体芯片的下表面暴露的下端上。导电凸块可以布置在下焊盘上。上焊盘可以布置在互连过孔件的通过半导体芯片的上表面暴露的上端上。上焊盘的宽度可以比互连过孔件的宽度宽,并且可以比下焊盘的宽度窄。因此,在具有薄的厚度的互连结构中,不会在导电凸块之间产生电短路。

    半导体封装件和用于制造半导体封装件的方法

    公开(公告)号:CN115440711A

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202210593355.0

    申请日:2022-05-27

    发明人: 张喆容

    摘要: 提供了一种半导体封装件,其中,第一粘合膜包括相对于第一半导体芯片的侧表面在垂直于第一方向的第二方向上延伸的第一延伸部分,所述第一延伸部分具有包括朝向基体芯片凹入的第一凹陷的上表面,所述多个第二粘合膜均包括相对于所述多个第二半导体芯片的侧表面在所述第二方向上延伸的第二延伸部分,并且所述第二延伸部分具有包括在所述第一方向上凹入的第二凹陷的上表面和包括位于所述第一凹陷或所述第二凹陷中的突起的下表面。

    半导体封装件
    8.
    发明公开
    半导体封装件 审中-实审

    公开(公告)号:CN114823652A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202111305903.7

    申请日:2021-11-05

    摘要: 公开的是一种半导体封装件,所述半导体封装件包括下半导体芯片和垂直堆叠在所述下半导体芯片的顶表面上的上半导体芯片。所述上半导体芯片包括第一上半导体芯片和第二上半导体芯片。所述第一上半导体芯片位于所述下半导体芯片与所述第二上半导体芯片之间。每一个所述第一上半导体芯片的厚度是所述下半导体芯片的厚度的0.4倍至0.95倍。所述第二上半导体芯片的厚度与所述第一上半导体芯片的厚度相同或大于所述第一上半导体芯片的厚度。所述第一上半导体芯片和所述第二上半导体芯片的总数是4n,其中n是等于或大于三的自然数。