半导体封装件
    21.
    发明公开
    半导体封装件 审中-公开

    公开(公告)号:CN117410263A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202310752416.8

    申请日:2023-06-25

    Abstract: 在一些实施例中,一种半导体封装件包括封装基板、位于所述封装基板上的多个半导体芯片、位于所述封装基板与所述多个半导体芯片之间的多个中介体以及与所述多个半导体芯片和所述多个中介体接触的模制层。所述多个半导体芯片包括第一半导体芯片以及在水平方向上与所述第一半导体芯片间隔开的第二半导体芯片和第三半导体芯片。所述多个中介体包括与所述第一半导体芯片垂直交叠的第一垂直连接中介体、与所述第二半导体芯片垂直交叠的第二垂直连接中介体、与所述第一半导体芯片和所述第二半导体芯片垂直交叠的第一水平连接中介体以及与所述第二半导体芯片和所述第三半导体芯片垂直交叠的第二水平连接中介体。

    半导体封装
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110071075B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN201811144680.9

    申请日:2018-09-28

    Inventor: 金泳龙 白承德

    Abstract: 一种半导体封装包括:半导体芯片,其包括第一区域以及与第一区域间隔开的第二区域;多个连接凸块,设置在半导体芯片的第一区域下方;以及保护层,其覆盖第二区域中的半导体芯片的底表面,其中,保护层不覆盖第一区域中的半导体芯片的底表面,并且不设置在多个连接凸块之间。半导体封装的半导体芯片由保护层保护。

    半导体封装
    23.
    发明公开
    半导体封装 审中-实审

    公开(公告)号:CN112652595A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202011078418.6

    申请日:2020-10-10

    Inventor: 张爱妮 金泳龙

    Abstract: 一种半导体封装包括:第一半导体芯片,包括具有彼此相反的第一表面和第二表面的第一基板、在第一基板中的贯通电极、在第一表面上并电连接到贯通电极的第一芯片焊盘、以及在第一表面上并电连接到第一基板中的电路元件的第二芯片焊盘;再分配布线层,在第一半导体芯片的第一表面上,并包括电连接到第一芯片焊盘的第一再分配布线列和电连接到第二芯片焊盘的第二再分配布线列;第二半导体芯片,堆叠在第一半导体芯片的第二表面上并电连接到贯通电极;以及模制构件,在第一和第二半导体芯片的侧表面上。

    半导体装置
    24.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN112133679A

    公开(公告)日:2020-12-25

    申请号:CN202010342804.5

    申请日:2020-04-27

    Inventor: 张爱妮 金泳龙

    Abstract: 提供了半导体装置,所述半导体装置可以包括:第一半导体芯片;第一重新分布层,位于第一半导体芯片的底表面上;第二半导体芯片,位于第一半导体芯片上;第二重新分布层,位于第二半导体芯片的底表面上;模制层,在第一半导体芯片的侧壁和第二半导体芯片的侧壁上以及第一半导体芯片的底表面上延伸;以及外部端子,延伸穿过模制层并且电连接到第一重新分布层。第二重新分布层可以包括暴露部分。第一重新分布层可以包括电连接到第一半导体芯片的第一导电图案以及与第一半导体芯片电绝缘的第二导电图案。第二重新分布层的暴露部分和第一重新分布层的第二导电图案可以通过第一连接引线电连接。

    半导体器件
    30.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN117425346A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202310542290.1

    申请日:2023-05-15

    Abstract: 一种半导体器件,包括:外围电路结构,包括衬底上的外围电路和电连接到外围电路的第一接合焊盘;以及单元阵列结构,包括半导体层上的存储单元、以及电连接到存储单元并接合到第一接合焊盘的第二接合焊盘。单元阵列结构还包括:堆叠结构,包括绝缘层和电极;半导体层的表面上的外部连接焊盘;虚设图案,相对于衬底位于与半导体层相同的水平处;以及在半导体层和虚设图案上的光敏绝缘层。光敏绝缘层的与外部连接焊盘竖直重叠的部分的第一厚度大于光敏绝缘层的与虚设图案竖直重叠的另一部分的第二厚度。

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