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公开(公告)号:WO2013046802A1
公开(公告)日:2013-04-04
申请号:PCT/JP2012/063644
申请日:2012-05-28
发明人: 杉藤 哲郎
IPC分类号: H01L21/60
CPC分类号: B23K3/08 , H01L24/78 , H01L24/85 , H01L2224/05599 , H01L2224/451 , H01L2224/45144 , H01L2224/78301 , H01L2224/78753 , H01L2224/85205 , H01L2224/85399 , H01L2224/859 , H01L2924/00014 , H01L2924/12042 , H01L2224/48 , H01L2924/00 , H01L2924/00015 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
摘要: サーチ動作又はボンディング前のボンディング点の高さ測定を行うことなしに、高速でボンディングが可能なボンディング装置を提供すること。 上下方向に揺動可能なボンディングアームに搭載されて、被ボンディング部品の表面に位置するボンディング点の合焦点の検出を行う共焦点光学系と、前記ボンディングアームと一体に可動してボンディングを行うボンディングツールと、前記ボンディングツールの位置を検出する位置検出手段と、を有し、ボンディングツールのボンディング点への下降中に、共焦点光学系による合焦点検出により位置検出手段で検出したボンディングツールの位置から、前もって設定したボンディング点までの所定の距離(合焦点基準下降量)をボンディングツールが下降して、ボンディング点上で停止するように制御する。
摘要翻译: 本发明的目的是提供一种能够在搜索操作之前或粘合之前高速粘合而不测量接合点高度的接合装置。 本发明包括:共焦点光学系统,其安装在能够沿上/下方向摆动的接合臂上,所述共焦点光学系统检测定位在待接合部件的表面上的接合点的聚焦焦点; 接合工具,其结合并与所述接合臂一体移动; 以及检测接合工具的位置的位置检测装置。 提供控制,使得粘合工具从粘合工具在焊接工具下降期间检测到的接合工具位置下降指定距离(聚焦焦点参考下降量),所述焊接工具位置通过聚焦来检测 通过共焦点光学系统的焦点检测,到预设的接合点,并且在接合点上停止。
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2.
公开(公告)号:WO2015088658A3
公开(公告)日:2015-08-06
申请号:PCT/US2014062172
申请日:2014-10-24
发明人: KELLER DAREN W
CPC分类号: H01L24/78 , H01L21/67253 , H01L21/67282 , H01L21/67288 , H01L22/12 , H01L22/26 , H01L23/544 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/85 , H01L2223/54413 , H01L2223/54433 , H01L2223/54473 , H01L2224/45014 , H01L2224/45015 , H01L2224/45124 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/48137 , H01L2224/48177 , H01L2224/48227 , H01L2224/48247 , H01L2224/78753 , H01L2224/789 , H01L2224/78901 , H01L2224/85801 , H01L2224/8585 , H01L2224/859 , H01L2924/1203 , H01L2924/12033 , H01L2924/12042 , H01L2924/1304 , H01L2924/14 , H01L2924/1432 , H01L2924/1433 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要: An apparatus comprises a wire bonder system including a wire bonding device (210), a measuring device (215) and a rejection device (220). The wire bonding device (210) is configured to attach wire bond type electrical interconnect to an electronic assembly. A wire bond is formed between a first semiconductor device and a second electronic device to form at least a portion of the electronic assembly. The measuring device (215) is configured to perform a three dimensional measurement associated with a wire bond, and the rejection device (220) is configured to identify an electronic assembly for rejection according to the three dimensional wire bond measurement.
摘要翻译: 一种装置包括一种包括接线装置(210),测量装置(215)和拒收装置(220)的引线接合系统。 引线接合装置(210)被配置为将引线接合型电互连件附接到电子组件。 在第一半导体器件和第二电子器件之间形成引线接合以形成电子组件的至少一部分。 测量装置(215)被配置为执行与引线接合相关联的三维测量,并且拒绝装置(220)被配置为根据三维线接合测量来识别用于拒绝的电子组件。
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3.バンプ位置の導出方法およびバンプ形成位置の補正方法、バンプボンダー並びにバンプの外観検査装置 审中-公开
标题翻译: BUMP位置导出方法,BUMP形成位置校正方法,BUMP BONDER和BUMP外观检查设备公开(公告)号:WO2012165030A1
公开(公告)日:2012-12-06
申请号:PCT/JP2012/058830
申请日:2012-04-02
CPC分类号: H01L22/12 , H01L22/20 , H01L24/11 , H01L24/13 , H01L24/742 , H01L2224/1134 , H01L2224/117 , H01L2224/742 , H01L2224/78753 , H01L2224/789
摘要: 【課題】ウエハ上のねらいの位置に正確にバンプを形成するように位置補正をすることをできる、バンプ位置の導出方法およびバンプ形成位置の補正方法、バンプボンダー並びにバンプの外観検査装置を提供する。 【解決手段】バンプボンダーのバンプ形成位置の補正方法は、ウエハ上に、バンプボンダーのキャピラリでバンプを形成する、バンプ形成工程と、バンプ形成工程により形成されたバンプにおける、キャピラリ形状が転写されたチャンファ痕部を認識する、チャンファ痕部認識工程と、チャンファ痕部認識工程で取得した画像から、実際のバンプ形成位置を導出する、バンプ形成位置導出工程と、実際のバンプ形成位置と、予め設定したバンプ形成位置とを比較して、次に実行するバンプ形成位置を補正する位置補正工程と、を有する。
摘要翻译: [问题]提供可以进行位置校正的凸起位置导出方法,凸点形成位置校正方法,凸块接合器和凸块外观检查装置,使得在晶片上的预期位置精确地形成凸块。 用于凸块焊接机的凸块形成位置校正方法具有:凸块形成步骤,用于使用凸块焊接机毛细管在晶片上形成凸块; 斜面跟踪部分识别步骤,其识别其中毛细管形状已被转移到通过凸块形成过程形成的凸起的倒角迹线部分; 凸块形成位置导出步骤,从在所述倒角跟踪识别步骤中获取的图像导出实际的凸块形成位置; 以及位置校正步骤,其将实际的凸块形成位置与预先建立的凸块形成位置进行比较,并且校正其后将形成凸块的位置。
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4.
公开(公告)号:WO2015088658A2
公开(公告)日:2015-06-18
申请号:PCT/US2014/062172
申请日:2014-10-24
发明人: KELLER, Daren W.
IPC分类号: H01L21/67
CPC分类号: H01L24/78 , H01L21/67253 , H01L21/67282 , H01L21/67288 , H01L22/12 , H01L22/26 , H01L23/544 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/85 , H01L2223/54413 , H01L2223/54433 , H01L2223/54473 , H01L2224/45014 , H01L2224/45015 , H01L2224/45124 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/48137 , H01L2224/48177 , H01L2224/48227 , H01L2224/48247 , H01L2224/78753 , H01L2224/789 , H01L2224/78901 , H01L2224/85801 , H01L2224/8585 , H01L2224/859 , H01L2924/1203 , H01L2924/12033 , H01L2924/12042 , H01L2924/1304 , H01L2924/14 , H01L2924/1432 , H01L2924/1433 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要: An apparatus comprises a wire bonder system including a wire bonding device, a measuring device and a rejection device. The wire bonding device is configured to attach wire bond type electrical interconnect to an electronic assembly. A wire bond is formed between a first semiconductor device and a second electronic device to form at least a portion of the electronic assembly. The measuring device is configured to perform a three dimensional measurement associated with a wire bond, and the rejection device is configured to identify an electronic assembly for rejection according to the three dimensional wire bond measurement.
摘要翻译: 一种装置包括一种包括接线装置,测量装置和拒收装置的引线接合系统。 引线接合装置被配置为将引线接合型电互连件附接到电子组件。 在第一半导体器件和第二电子器件之间形成引线接合以形成电子组件的至少一部分。 测量装置被配置为执行与线接合相关联的三维测量,并且所述拒绝装置被配置为根据三维线接合测量来识别用于拒绝的电子组件。
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公开(公告)号:WO2015087997A1
公开(公告)日:2015-06-18
申请号:PCT/JP2014/082947
申请日:2014-12-12
申请人: 株式会社日立パワーデバイス
CPC分类号: H01L29/7808 , H01L23/051 , H01L23/3107 , H01L23/3114 , H01L23/3135 , H01L23/3142 , H01L23/367 , H01L23/373 , H01L23/544 , H01L24/01 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L24/33 , H01L24/37 , H01L24/40 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/66 , H01L24/69 , H01L24/73 , H01L24/75 , H01L24/78 , H01L24/83 , H01L24/84 , H01L24/85 , H01L24/92 , H01L25/16 , H01L29/7805 , H01L2223/5442 , H01L2223/54426 , H01L2223/54486 , H01L2224/04042 , H01L2224/05554 , H01L2224/0603 , H01L2224/291 , H01L2224/32245 , H01L2224/33181 , H01L2224/37012 , H01L2224/37147 , H01L2224/40137 , H01L2224/40499 , H01L2224/45147 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48499 , H01L2224/49175 , H01L2224/73221 , H01L2224/73265 , H01L2224/75754 , H01L2224/78753 , H01L2224/78802 , H01L2224/83101 , H01L2224/83801 , H01L2224/84801 , H01L2224/9221 , H01L2924/00011 , H01L2924/13091 , H01L2924/181 , H01L2924/19107 , H02K11/00 , H02K11/046 , H02K19/36 , H02M1/08 , H02M7/003 , H02M7/217 , H02M7/219 , H02M2001/0006 , H02P9/00 , H01L2924/00014 , H01L2924/00012 , H01L2924/00 , H01L2924/01005 , H01L2924/01033 , H01L2924/014 , H01L2224/83 , H01L2224/84
摘要: 本発明の半導体装置(S1)は、オルタネータ(Ot)に取着される上面視円形の外周部(101s)をもつ第1の外部電極(101)を有し、第1の外部電極(101)上に、MOSFETチップ(103)と、MOSFETチップ(103)の第1の主端子(103d)と第2の主端子(103s)の電圧もしくは電流が入力され、それに基づいてMOSFETチップ(103)のゲート(103g)に供給する制御信号を生成する制御回路(104)と、制御回路(104)に電源を供給するコンデンサ(105)とが搭載され、MOSFETチップ(103)に対して前記第1の外部電極の反対側に第2の外部電極(107)を有し、MOSFETチップ(103)の第1の主端子(103d)と第1の外部電極(101)、並びに、MOSFETチップ(103)の第2の主端子(103s)と第2の外部電極(107)が電気的に接続されている。
摘要翻译: 该半导体装置(S1)具有第一外部电极(101),其具有从上方观察时为圆形的外周部(101s),并且安装在交流发电机(Ot)上。 第一外部电极(101)安装在其上:MOSFET芯片(103); 输入MOSFET芯片(103)的第一主端子(103d)和第二主端子(103s)之间的电流或电压的控制电路(104),并且基于电流或 电压,提供给MOSFET芯片(103)的栅极(103g)的控制信号; 以及用于向所述控制电路(104)提供电源的电容器(105)。 第二外部电极(107)在与第一外部电极相对的一侧提供给MOSFET芯片(103)。 MOSFET芯片(103)的第一外部电极(101)和第一主要端子(103d)电连接。 此外,MOSFET芯片(103)的第二外部电极(107)和第二主要端子(103s)电连接。
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公开(公告)号:WO2019139954A1
公开(公告)日:2019-07-18
申请号:PCT/US2019/012854
申请日:2019-01-09
IPC分类号: H01L23/00
CPC分类号: H01L24/78 , B23K20/004 , B23K20/10 , B23K20/26 , B23K2101/40 , H01L23/367 , H01L24/85 , H01L2224/78313 , H01L2224/78704 , H01L2224/78753 , H01L2224/78901 , H01L2224/85123 , H01L2224/85129 , H01L2224/85205
摘要: A method of operating an ultrasonic bonding machine is provided. The method includes the steps of: (a) imaging at least one of (i) a semiconductor element supported by a substrate, and (ii) a clamping structure adapted for securing the substrate during a bonding operation; and (b) determining if a relative position of the semiconductor element and the clamping structure is acceptable using predetermined criteria and information from step (a).
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公开(公告)号:WO2016158588A1
公开(公告)日:2016-10-06
申请号:PCT/JP2016/059067
申请日:2016-03-22
申请人: 株式会社新川
IPC分类号: H01L21/60
CPC分类号: H01L24/78 , B23K1/06 , B23K3/08 , B23K35/0261 , B23K2201/40 , H01L2224/78621 , H01L2224/78701 , H01L2224/78702 , H01L2224/78753
摘要: ワイヤボンディングのためのオフセットを簡易かつ正確に測定することができ、ワイヤボンディングの精度向上を図るため、ワイヤボンディング装置10は、第1撮像部30と、ボンディングツール18と、移動機構12と、リファレンス部材50と、基準面Sに対してボンディングツール18及び第1撮像部30とは反対側に配置された第2撮像部40と、制御部60と、を備え、第1撮像部30は、リファレンス部材50の位置に対する第1撮像部30の光軸30aの位置を検出し、第2撮像部40は、予め記憶されたオフセット値Xw,Ywに従ってボンディングツール18をリファレンス部材50の上方に移動させたとき、リファレンス部材50の位置を検出するとともに、ワイヤ20のボール状先端部22の位置を検出し、制御部60は、各検出結果に基づいて、ボンディングツール18と第1撮像部30との間のオフセットの変化を測定する。
摘要翻译: 为了容易且精确地测量引线接合的偏移,为了确保引线接合的精度提高,布线接合装置10包括第一图像捕获部30,接合工具18,移动机构12,基准 构件50,相对于参考面S布置在与接合工具18和第一图像捕获单元30相对的一侧的第二图像捕获单元40,以及控制单元60,其中第一图像捕获单元30检测位置 第一图像拍摄单元30的光轴30a相对于基准构件50的位置,第二图像拍摄单元40在粘合工具18在基准构件50上方移动时检测基准构件50的位置, 根据预先存储的偏移值Xw,Yw,并检测线20的球形末端部分22的位置,并且控制单元60测量接合工具18和第一图像ca之间的偏移量的变化 检测单元30。
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公开(公告)号:WO2015190471A1
公开(公告)日:2015-12-17
申请号:PCT/JP2015/066580
申请日:2015-06-09
申请人: 株式会社新川
CPC分类号: H01L24/75 , B23K1/0016 , B23K3/08 , B23K2201/40 , H01L21/52 , H01L21/67138 , H01L24/45 , H01L24/78 , H01L24/85 , H01L2224/45124 , H01L2224/45139 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/75753 , H01L2224/75804 , H01L2224/78301 , H01L2224/78753 , H01L2224/78804 , H01L2224/85121 , H01L2224/859 , H01L2924/00014 , H01L2224/45015 , H01L2924/207 , H01L2224/05599
摘要: 斜め光学系30を有するボンディング装置10の制御部40は、キャピラリ24を第1高さ位置まで下降させて斜め光学系30の撮像面上におけるキャピラリ24の先端部の位置A 11 とキャピラリの先端部の像の位置をA 12 として算出し、同様に、キャピラリ24をさらに低い第2高さ位置まで下降させて撮像面上におけるキャピラリ24の先端部の位置A 21 とキャピラリの先端部の像の位置をA 22 として算出し、算出されたA 11 ,A 12 ,A 21 ,A 22 の4つの位置データと、第1高さ位置と第2高さ位置とに基づいて、ボンディング対象物8に対するキャピラリ24の着地点位置を推定する。これにより、ボンディング装置に斜め光学系を用いてボンディング処理の位置精度をより向上させることができる。
摘要翻译: 具有倾斜光学系统(30)的接合装置(10)的控制单元(40)将毛细管(24)降低到第一高度位置,以计算毛细管(24)的前端的位置(A11) 倾斜光学系统(30)的图像捕获表面,并且作为A12,毛细管的前端的图像的位置同样地将毛细管(24)降低到较低的第二高度位置以计算位置(A21) 的毛细管(24)的前端在图像捕获表面上,并且作为A22,毛细管的前端的图像的位置,并且基于所计算的A11,A12的四个位置数据, A21和A22,第一高度位置和第二高度位置估计毛细管(24)相对于待粘合物体(8)的着陆点位置。 因此,通过在接合装置中使用倾斜光学系统,进一步提高了接合处理的位置精度。
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公开(公告)号:WO2015137029A1
公开(公告)日:2015-09-17
申请号:PCT/JP2015/053590
申请日:2015-02-10
申请人: 株式会社新川
CPC分类号: H01L24/75 , H01L24/16 , H01L24/32 , H01L24/48 , H01L24/78 , H01L24/81 , H01L24/83 , H01L24/85 , H01L2224/16227 , H01L2224/16245 , H01L2224/32225 , H01L2224/32245 , H01L2224/48227 , H01L2224/48245 , H01L2224/751 , H01L2224/75251 , H01L2224/75305 , H01L2224/7531 , H01L2224/75651 , H01L2224/75702 , H01L2224/75753 , H01L2224/75824 , H01L2224/759 , H01L2224/781 , H01L2224/78251 , H01L2224/78304 , H01L2224/78307 , H01L2224/78651 , H01L2224/78702 , H01L2224/78753 , H01L2224/78824 , H01L2224/789 , H01L2224/81065 , H01L2224/81075 , H01L2224/81093 , H01L2224/83065 , H01L2224/83075 , H01L2224/83093 , H01L2224/85065 , H01L2224/85075 , H01L2224/85093 , H01L2924/00014 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
摘要: 本実施形態に係るボンディング装置は、搬送部(20)に形成されているボンディング用開口(26)からボンディング対象を認識するための撮影空間(VS)を横切るように第1の気体流(D1)を形成する第1のブロワー部(11h)と、撮影空間に沿って第2の気体流(D2)を形成する第2のブロワー部(12h)とを備える。第2のブロワー部(12h)は、第1の気体流(D1)によって周囲の気体(G2)が撮影空間(VS)に巻き込まれることを抑制するように第2の気体流(D2)による障壁を形成する。これにより、基板やリードフレーム等のボンディング対象物を加熱することによって生じる陽炎の影響を抑制することができる。
摘要翻译: 根据本发明的实施例,粘合装置具有:形成第一气流(D1)的第一鼓风机部分(11h),使得第一气流跨越拍摄空间(VS),以从 形成在转印部(20)中的接合开口(26),要接合的对象; 以及沿着拍摄空间形成第二气流(D2)的第二鼓风机部分(12h)。 第二送风部(12h)借助于第二气流(D2)形成阻挡壁,以便抑制由于第一气流(D1)而将周围气体(G2)进入拍摄空间(VS)。 因此,可以抑制加热对象(例如基板和引线框架)时产生的热雾的影响。
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