半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN104658987B

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201410042445.6

    申请日:2014-01-28

    Abstract: 一种半导体器件包括:载具;管芯,包括第一面和第二面;多个第一导电凸块,设置在管芯的第二面和载具之间,管芯倒装接合在载具上;以及成型物,设置在载具上方并环绕管芯,其中,成型物包括设置在管芯的第一面上的凹进部,从而保持第一面的一部分未被成型物覆盖。此外,制造半导体器件的方法包括:提供载具;将管芯倒装接合在载具上;将橡胶材料设置在管芯的第一面上以及管芯的第一面内;以及形成环绕橡胶材料并覆盖载具的成型物。本发明还提供了半导体器件的制造方法。

    倒装芯片封装
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106298549B

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN201510743052.2

    申请日:2015-11-04

    Abstract: 本发明提供一种集成电路(IC)封装件,包括:第一衬底;设置在第一衬底上方的第二衬底;设置在第一与第二衬底之间的多个连接件,以电连接第一与第二衬底;设置在第一和第二衬底上方的约束层,使得在约束层与第一衬底之间形成腔体;以及设置在腔体内并且穿过约束层延伸的模塑材料。约束层具有顶面和相对的底面,并且模塑材料从约束层的顶面延伸至底面。本发明还提供了一种形成集成电路(IC)封装件的方法。

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