半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN112103256B

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN201910966876.4

    申请日:2019-10-12

    Abstract: 本揭露实施例是有关于一种半导体装置及其制造方法。在本揭露实施例中,半导体装置包括封装组件,所述封装组件包括:多个集成电路管芯;包封体,位于所述多个集成电路管芯周围;重布线结构,位于所述包封体及所述多个集成电路管芯之上,所述重布线结构电耦合到所述多个集成电路管芯;多个插座,位于所述重布线结构之上,所述多个插座电耦合到所述重布线结构;以及支撑环,位于所述重布线结构之上且环绕所述多个插座,所述支撑环沿所述重布线结构的最外边缘设置,所述支撑环在横向上至少部分地与所述重布线结构交叠。

    用于半导体封装的方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112397395A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202010376320.2

    申请日:2020-05-07

    Inventor: 余振华 黄见翎

    Abstract: 本发明提供一种用于半导体封装的方法,包含在载体上方涂布离型膜。载体包含具有第一热膨胀系数(CTE)的第一材料和具有不同于第一热膨胀系数的第二热膨胀系数的第二材料。方法进一步包含将器件管芯放置在离型膜上方、将器件管芯包封在包封体中以及平面化包封体直到露出器件管芯。本发明校正由扇出型结构产生的翘曲。

    扇出封装工艺中的对准凸块

    公开(公告)号:CN109585312A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811122570.2

    申请日:2018-09-26

    Abstract: 一种方法包括将第一封装组件和第二封装组件放置在载体上方。第一封装组件的第一导电柱和第二封装组件的第二导电柱朝向载体。该方法还包括将第一封组件和第二封装组件密封在密封材料中;将第一封装组件和第二封装组件从载体脱粘;平坦化第一导电柱、第二导电柱和密封材料,以及形成再分布线以电连接至第一导电柱和第二导电柱。本发明实施例涉及一种封装件及其形成方法,更具体地,涉及扇出封装工艺中的对准凸块。

    半导体制程中的安装多个构件的方法

    公开(公告)号:CN107464761A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201610857579.2

    申请日:2016-09-28

    Abstract: 本发明的一实施例提供一种半导体制程中的多个安装构件的方法。前述方法包含提供一具有多个穿孔的定位板。前述方法还包含供应多个构件于前述定位板上,其中每一个构件具有一纵长部。前述方法也包含进行一构件对准制程,使多个构件的纵长部放入穿孔内。此外,前述方法包含连接一基底至多个构件,且多个构件的纵长部是于穿孔内,并移除定位板。

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