半導体装置
    3.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2018046190A

    公开(公告)日:2018-03-22

    申请号:JP2016180689

    申请日:2016-09-15

    发明人: 桑原 芳光

    IPC分类号: H01L25/18 H01L25/07

    摘要: 【課題】半導体チップが破裂した際の損傷を抑制できる半導体装置を提供する。 【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、半導体チップと、枠体と、第1電極と、第2電極と、金属板と、を有する。前記半導体チップは、第1端子と、前記第1端子の反対側に設けられた第2端子と、を有する。前記枠体は、前記半導体チップの外周を囲んでいる。前記第1電極は、前記第1端子側に設けられ、前記第1端子と電気的に接続される。前記第2電極は、前記第2端子側に設けられ、前記第2端子と電気的に接続される。前記金属板は、前記第1端子と前記第1電極との間に設けられている。前記金属板は、外周において側方に向けて突出した突出部を有する。前記突出部は、前記第1電極と離間している。 【選択図】図1