公开(公告)号：US07888785B2

公开(公告)日：2011-02-15

申请号：US12219263

申请日：2008-07-18

申请人： Eun-Chul Ahn ,  Min-Ho O ,  Jong Ho Lee

发明人： Eun-Chul Ahn ,  Min-Ho O ,  Jong Ho Lee

IPC分类号： H01L23/02

CPC分类号： H01L23/13 ,  H01L23/5389 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/73 ,  H01L24/83 ,  H01L25/03 ,  H01L25/0652 ,  H01L25/0657 ,  H01L25/105 ,  H01L25/18 ,  H01L2224/32145 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/45139 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48095 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/48228 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/83 ,  H01L2225/0651 ,  H01L2225/06524 ,  H01L2225/1023 ,  H01L2225/1058 ,  H01L2225/107 ,  H01L2924/00011 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01087 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/19041 ,  H05K1/185 ,  H05K2201/09509 ,  H05K2201/10515 ,  H05K2201/10719 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2924/01049

摘要： A device includes a base substrate, a package including an encapsulated die, the package at least partially embedded in the base substrate, and a wiring portion on the package and extending across at least a portion of the base substrate adjacent to the package.

摘要翻译： 一种器件包括基底，包括封装的芯片的封装，至少部分地嵌入基底衬底中的封装以及封装上的布线部分，并延伸穿过与封装相邻的基底衬底的至少一部分。

公开(公告)号：US07626254B2

公开(公告)日：2009-12-01

申请号：US12121490

申请日：2008-05-15

申请人： Min-Ho O ,  Jong-Ho Lee ,  Eun-Chul Ahn ,  Pyoung-Wan Kim

发明人： Min-Ho O ,  Jong-Ho Lee ,  Eun-Chul Ahn ,  Pyoung-Wan Kim

IPC分类号： H01L23/48

CPC分类号： H01L24/85 ,  H01L23/5389 ,  H01L24/24 ,  H01L24/48 ,  H01L24/73 ,  H01L24/82 ,  H01L24/83 ,  H01L24/91 ,  H01L25/0657 ,  H01L2224/05553 ,  H01L2224/24226 ,  H01L2224/32145 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/73227 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/83 ,  H01L2224/85 ,  H01L2224/92 ,  H01L2224/92244 ,  H01L2224/92247 ,  H01L2225/0651 ,  H01L2225/06524 ,  H01L2225/06527 ,  H01L2225/06582 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01074 ,  H01L2924/01075 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/10161 ,  H01L2924/15153 ,  H01L2924/15165 ,  H01L2924/15311 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/78 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2224/05599

摘要： A semiconductor package using a chip-embedded interposer substrate is provided. The chip-embedded interposer substrate includes a chip including a plurality of chip pads; a substrate having the chip mounted thereon and including a plurality of redistribution pads for redistributing the chip pads; bonding wires for connecting the chip pads to the redistribution pads; a protective layer having via holes for exposing the redistribution pads while burying the chip and the substrate; and vias connected to the redistribution pads through the via holes. The semiconductor package including chips of various sizes is fabricated using the chip-embedded interposer substrate.

摘要翻译： 提供了使用芯片嵌入式插入器基板的半导体封装。 芯片嵌入式插入器基板包括：包括多个芯片焊盘的芯片; 具有安装在其上的芯片并且包括用于重新分配芯片焊盘的多个再分配焊盘的衬底; 用于将芯片焊盘连接到再分配焊盘的接合线; 保护层，其具有用于在掩埋所述芯片和所述基板的同时露出所述再分布焊盘的通孔; 以及通过通孔连接到再分配焊盘的通孔。 包括各种尺寸的芯片的半导体封装使用芯片嵌入式插入器基板来制造。

公开(公告)号：US20090065920A1

公开(公告)日：2009-03-12

申请号：US12219263

申请日：2008-07-18

申请人： Eun-Chul Ahn ,  Min-Ho O ,  Jong Ho Lee

发明人： Eun-Chul Ahn ,  Min-Ho O ,  Jong Ho Lee

IPC分类号： H01L23/488 ,  H01L21/58

CPC分类号： H01L23/13 ,  H01L23/5389 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/73 ,  H01L24/83 ,  H01L25/03 ,  H01L25/0652 ,  H01L25/0657 ,  H01L25/105 ,  H01L25/18 ,  H01L2224/32145 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/45139 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48095 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/48228 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2224/83 ,  H01L2225/0651 ,  H01L2225/06524 ,  H01L2225/1023 ,  H01L2225/1058 ,  H01L2225/107 ,  H01L2924/00011 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01087 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/19041 ,  H05K1/185 ,  H05K2201/09509 ,  H05K2201/10515 ,  H05K2201/10719 ,  H01L2924/00012 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2924/01049

摘要： A device includes a base substrate, a package including an encapsulated die, the package at least partially embedded in the base substrate, and a wiring portion on the package and extending across at least a portion of the base substrate adjacent to the package.

摘要翻译： 一种器件包括基底，包括封装的芯片的封装，至少部分地嵌入基底衬底中的封装以及封装上的布线部分，并延伸穿过与封装相邻的基底衬底的至少一部分。

公开(公告)号：US20110079897A1

公开(公告)日：2011-04-07

申请号：US12894540

申请日：2010-09-30

申请人： Jin-Woo PARK ,  Eun-Chul Ahn ,  Dong-Kil Shin ,  Sun-Won Kang ,  Jong-Ho Lee

发明人： Jin-Woo PARK ,  Eun-Chul Ahn ,  Dong-Kil Shin ,  Sun-Won Kang ,  Jong-Ho Lee

IPC分类号： H01L23/48

CPC分类号： H01L24/06 ,  H01L23/49816 ,  H01L24/03 ,  H01L24/05 ,  H01L24/11 ,  H01L24/12 ,  H01L24/13 ,  H01L2224/02125 ,  H01L2224/03464 ,  H01L2224/0401 ,  H01L2224/05011 ,  H01L2224/05018 ,  H01L2224/05124 ,  H01L2224/05147 ,  H01L2224/05556 ,  H01L2224/05558 ,  H01L2224/05569 ,  H01L2224/05572 ,  H01L2224/05655 ,  H01L2224/06051 ,  H01L2224/13018 ,  H01L2224/13022 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2224/131 ,  H01L2224/13116 ,  H01L2224/1403 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2224/16227 ,  H01L2224/73204 ,  H01L2924/00013 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01047 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15788 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/19041 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/0105 ,  H01L2224/13599 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/05099 ,  H01L2224/29099 ,  H01L2224/29599 ,  H01L2224/05552 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00012

摘要： In an integrated circuit (IC) chip and a flip chip package having the same, no wiring line is provided and the first electrode pad does not make contact with the wiring line in a pad area of the IC chip. Thus, the first bump structure makes contact with the first electrode regardless of the wiring line in the pad area. The second electrode pad makes contact with the wiring line in a pseudo pad area of the IC chip. Thus, the second bump structure in the pseudo pad area makes contact with an upper surface of the second electrode at a contact point(s) spaced apart from the wiring line under the second electrode.

摘要翻译： 在集成电路（IC）芯片和具有其的倒装芯片封装中，不设置布线，并且第一电极焊盘不与IC芯片的焊盘区域中的布线接触。 因此，与焊盘区域中的布线无关，第一凸块结构与第一电极接触。 第二电极焊盘与IC芯片的伪焊盘区域中的布线接触。 因此，伪焊盘区域中的第二凸块结构在与第二电极下方的布线间隔开的接触点处与第二电极的上表面接触。

公开(公告)号：US08922012B2

公开(公告)日：2014-12-30

申请号：US12894540

申请日：2010-09-30

申请人： Jin-Woo Park ,  Eun-Chul Ahn ,  Dong-Kil Shin ,  Sun-Won Kang ,  Jong-Ho Lee

发明人： Jin-Woo Park ,  Eun-Chul Ahn ,  Dong-Kil Shin ,  Sun-Won Kang ,  Jong-Ho Lee

IPC分类号： H01L23/48 ,  H01L23/52 ,  H01L29/40 ,  H01L23/00 ,  H01L23/498

CPC分类号： H01L24/06 ,  H01L23/49816 ,  H01L24/03 ,  H01L24/05 ,  H01L24/11 ,  H01L24/12 ,  H01L24/13 ,  H01L2224/02125 ,  H01L2224/03464 ,  H01L2224/0401 ,  H01L2224/05011 ,  H01L2224/05018 ,  H01L2224/05124 ,  H01L2224/05147 ,  H01L2224/05556 ,  H01L2224/05558 ,  H01L2224/05569 ,  H01L2224/05572 ,  H01L2224/05655 ,  H01L2224/06051 ,  H01L2224/13018 ,  H01L2224/13022 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2224/131 ,  H01L2224/13116 ,  H01L2224/1403 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2224/16227 ,  H01L2224/73204 ,  H01L2924/00013 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01013 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01047 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15788 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/19041 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/0105 ,  H01L2224/13599 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/05099 ,  H01L2224/29099 ,  H01L2224/29599 ,  H01L2224/05552 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00012

摘要： In an integrated circuit (IC) chip and a flip chip package having the same, no wiring line is provided and the first electrode pad does not make contact with the wiring line in a pad area of the IC chip. Thus, the first bump structure makes contact with the first electrode regardless of the wiring line in the pad area. The second electrode pad makes contact with the wiring line in a pseudo pad area of the IC chip. Thus, the second bump structure in the pseudo pad area makes contact with an upper surface of the second electrode at a contact point(s) spaced apart from the wiring line under the second electrode.

摘要翻译： 在集成电路（IC）芯片和具有其的倒装芯片封装中，不设置布线，并且第一电极焊盘不与IC芯片的焊盘区域中的布线接触。 因此，与焊盘区域中的布线无关，第一凸块结构与第一电极接触。 第二电极焊盘与IC芯片的伪焊盘区域中的布线接触。 因此，伪焊盘区域中的第二凸块结构在与第二电极下方的布线间隔开的接触点处与第二电极的上表面接触。

公开(公告)号：US20110244634A1

公开(公告)日：2011-10-06

申请号：US13103553

申请日：2011-05-09

申请人： Young-Lyong Kim ,  Jong-Ho Lee ,  Cheul-Joong Youn ,  Eun-Chul Ahn

发明人： Young-Lyong Kim ,  Jong-Ho Lee ,  Cheul-Joong Youn ,  Eun-Chul Ahn

IPC分类号： H01L21/56

CPC分类号： H01L25/105 ,  H01L24/73 ,  H01L24/91 ,  H01L25/0657 ,  H01L2224/32145 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/32245 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/73265 ,  H01L2225/0651 ,  H01L2225/06527 ,  H01L2225/1023 ,  H01L2225/1029 ,  H01L2924/01005 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01047 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/014 ,  H01L2924/15311 ,  H01L2924/15331 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/1815 ,  H01L2924/3511 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00012

摘要： A semiconductor package and a method of manufacturing the semiconductor package. The semiconductor package includes a first package that a first semiconductor chip is mounted on a front side of a first substrate and a redistributed pad including a first redistributed pad electrically connected to the first substrate and a second redistributed pad electrically connected to the first redistributed pad is disposed on the first semiconductor chip and a second package that a second semiconductor chip is mounted on a front side of a second substrate, the second package including a connection member electrically connected to the second redistributed pad. The connection member electrically connected to the redistributed pad electrically connects the first and second packages to each other.

摘要翻译： 半导体封装以及半导体封装的制造方法。 半导体封装包括第一封装，第一半导体芯片安装在第一基板的前侧，以及重新分布的焊盘，其包括电连接到第一基板的第一再分布焊盘和电连接到第一再分布焊盘的第二再分布焊盘 设置在第一半导体芯片上的第二封装以及第二半导体芯片安装在第二基板的正面上的第二封装，所述第二封装包括与第二再分布焊盘电连接的连接部件。 电连接到再分布垫的连接构件将第一和第二封装彼此电连接。

公开(公告)号：US08008771B2

公开(公告)日：2011-08-30

申请号：US12193561

申请日：2008-08-18

申请人： Pyoung-Wan Kim ,  Eun-Chul Ahn ,  Jong-Ho Lee ,  Teak-Hoon Lee ,  Chul-Yong Jang

发明人： Pyoung-Wan Kim ,  Eun-Chul Ahn ,  Jong-Ho Lee ,  Teak-Hoon Lee ,  Chul-Yong Jang

IPC分类号： H01L23/48

CPC分类号： H01L23/49816 ,  H01L21/568 ,  H01L21/6835 ,  H01L23/5389 ,  H01L24/10 ,  H01L24/13 ,  H01L2224/04105 ,  H01L2224/05548 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/12105 ,  H01L2224/13 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2224/96 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01005 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01075 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/01087 ,  H01L2924/15311 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/351 ,  H05K3/3436 ,  H05K2201/10977 ,  Y02P70/613 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2924/00012

摘要： A semiconductor chip package including a semiconductor chip including a first surface having bonding pads, a second surface facing the first surface, and sidewalls; a molding extension part surrounding the second surface and the sidewalls of the semiconductor chip; redistribution patterns extending from the bonding pads over the molding extension part, and electrically connected to the bonding pads; bump solder balls on the redistribution patterns; and a molding layer configured to cover the first surface of the semiconductor chip and the molding extension part, while exposing portions of each of the bump solder balls. The molding layer has concave meniscus surfaces between the bump solder balls adjacent to each other.

摘要翻译： 一种半导体芯片封装，包括：半导体芯片，包括具有接合焊盘的第一表面，与所述第一表面相对的第二表面和侧壁; 围绕半导体芯片的第二表面和侧壁的成型延伸部分; 重新分布图案从接合焊盘延伸到模制延伸部分上，并且电连接到焊盘; 碰撞焊球上的再分布图案; 以及模制层，其被配置为覆盖半导体芯片的第一表面和模制延伸部分，同时暴露每个凸块焊球的部分。 成型层在彼此相邻的凸块焊料球之间具有凹面弯月面。

公开(公告)号：US07898075B2

公开(公告)日：2011-03-01

申请号：US12202036

申请日：2008-08-29

申请人： Chul-Yong Jang ,  Eun-Chul Ahn ,  Pyoung-Wan Kim ,  Taek-Hoon Lee

发明人： Chul-Yong Jang ,  Eun-Chul Ahn ,  Pyoung-Wan Kim ,  Taek-Hoon Lee

IPC分类号： H01L23/02 ,  H01L23/04

CPC分类号： H01L23/13 ,  H01L24/97 ,  H01L25/0657 ,  H01L25/105 ,  H01L2224/16 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2225/06517 ,  H01L2225/06541 ,  H01L2225/1058 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/15311 ,  H01L2924/351 ,  H01L2924/00

摘要： In one embodiment, a semiconductor package disclosed herein can be generally characterized as including a resin substrate having a first recess, a first interconnection disposed on a surface of the first recess, a first semiconductor chip disposed in the first recess, and an underfill resin layer substantially filling the first recess and covering a side surface of the first semiconductor chip. The first semiconductor chip is electrically connected to the first interconnection.

摘要翻译： 在一个实施例中，本文公开的半导体封装通常可以被表征为包括具有第一凹部的树脂基板，设置在第一凹部的表面上的第一互连，设置在第一凹部中的第一半导体芯片，以及底部填充树脂层 基本上填充第一凹部并覆盖第一半导体芯片的侧表面。 第一半导体芯片电连接到第一互连。

公开(公告)号：US07821139B2

公开(公告)日：2010-10-26

申请号：US11946750

申请日：2007-11-28

申请人： Tae-Joo Hwang ,  Eun-Chul Ahn ,  Tae-Gyeong Chung

发明人： Tae-Joo Hwang ,  Eun-Chul Ahn ,  Tae-Gyeong Chung

IPC分类号： H01L31/00

CPC分类号： H01L24/90 ,  H01L23/3171 ,  H01L24/83 ,  H01L2224/0554 ,  H01L2224/05568 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2224/274 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/83192 ,  H01L2224/83194 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01047 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/3512 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/0555 ,  H01L2224/0556

摘要： A flip-chip assembly comprises a semiconductor chip, a substrate, a first buffer layer, a second buffer layer and a conductive bump. The semiconductor chip includes a first region and a second region adjacent to the first region. The substrate is disposed under the semiconductor chip. The first buffer layer is disposed between the first region of the semiconductor chip and the substrate. The second buffer layer is disposed between the second region of the semiconductor chip and the substrate. The conductive bump is formed through the second buffer layer and electrically connects the semiconductor chip to the substrate.

摘要翻译： 倒装芯片组件包括半导体芯片，衬底，第一缓冲层，第二缓冲层和导电凸块。 半导体芯片包括与第一区域相邻的第一区域和第二区域。 衬底设置在半导体芯片下方。 第一缓冲层设置在半导体芯片的第一区域和基板之间。 第二缓冲层设置在半导体芯片的第二区域和基板之间。 导电凸块通过第二缓冲层形成并将半导体芯片电连接到基板。

公开(公告)号：US08456012B2

公开(公告)日：2013-06-04

申请号：US12568086

申请日：2009-09-28

申请人： Chang-Woo Shin ,  Hyun-Soo Chung ,  Eun-Chul Ahn ,  Jum-Gon Kim ,  Jin-Ho Chun

发明人： Chang-Woo Shin ,  Hyun-Soo Chung ,  Eun-Chul Ahn ,  Jum-Gon Kim ,  Jin-Ho Chun

IPC分类号： H01L23/48 ,  H01L23/52

CPC分类号： H01L21/76841 ,  H01L23/525 ,  H01L23/53238 ,  H01L24/02 ,  H01L24/13 ,  H01L2224/0231 ,  H01L2224/02331 ,  H01L2224/0235 ,  H01L2224/0401 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01005 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01022 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01078 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/01327 ,  H01L2924/04941 ,  H01L2924/12044

摘要： A semiconductor device including an interconnection structure including a copper pad, a pad barrier layer and a metal redistribution layer, an interconnection structure thereof and methods of fabricating the same are provided. The semiconductor device includes a copper pad disposed on a first layer, a pad barrier layer including titanium disposed on the copper pad, an inorganic insulating layer disposed on the pad barrier layer, a buffer layer disposed on the inorganic insulating layer, wherein the inorganic insulating layer and the buffer layer expose a portion of the pad barrier layer, a seed metal layer disposed on the exposed buffer layer, a metal redistribution layer disposed on the seed metal layer, and a first protective layer disposed on the metal redistribution layer.

摘要翻译： 提供一种包括铜焊盘，焊盘阻挡层和金属再分布层的互连结构的半导体器件，其互连结构及其制造方法。 半导体器件包括设置在第一层上的铜焊盘，包括设置在铜焊盘上的钛的焊盘阻挡层，设置在焊盘阻挡层上的无机绝缘层，设置在无机绝缘层上的缓冲层，其中无机绝缘 所述缓冲层暴露所述焊盘阻挡层的一部分，设置在所述暴露的缓冲层上的种子金属层，设置在所述种子金属层上的金属再分配层以及设置在所述金属再分配层上的第一保护层。