Abstract:
A semiconductor device is described comprising a semiconductor die 2 that is embedded in a package, wherein the die has a front side 28 comprising a plurality of pads to be bonded to terminals of the package, and wherein a backside 16 of the die is coupled to a backside surface 29 of the package by a thermal bridge.
Abstract:
Procédé de réalisation d'au moins un détecteur infrarouge photosensible par assemblage d'un premier composant (100, 230) électronique comportant une pluralité de photodiodes (110) sensibles au rayonnement infrarouge et d'un deuxième composant (400) électronique comprenant au moins un circuit électronique de lecture de la pluralité de photodiodes, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend : l'obtention sur chacun des premier (100, 230) et deuxième (400) composants d'une face de liaison (192, 492) formée au moins partiellement par une couche (210, 405) à base d'oxyde de silicium (Si02); une étape de collage du premier composant (100, 230) et du deuxième composant (400) par leurs faces de liaison (192, 492), réalisant ainsi le collage direct des deux composants (100, 230, 400). Ce procédé permet de simplifier l'hybridation de composants hétérogènes pour réaliser un détecteur infrarouge. L'invention porte également sur un détecteur infrarouge et sur un ensemble pour la réalisation d'un tel détecteur.
Abstract:
Methods of forming a microelectronic packaging structure and associated structures formed thereby are described. Those methods may include forming a cavity in a carrier material, attaching a die in the cavity, wherein a backside of the die comprises a metal filled DBF, forming a dielectric material adjacent the die and on a bottom side of the carrier material, forming a coreless substrate by building up layers on the dielectric material, and removing the carrier material from the coreless substrate.
Abstract:
A semiconductor package according to some examples of the disclosure may include a substrate having a bridge embedded in the substrate, a first and second die coupled to the substrate, and a plurality of electrically conductive bridge interconnects in the substrate coupling the bridge to the first and second die. The plurality of electrically conductive bridge interconnects may have a first bridge contact layer directly coupled to the bridge, a first solder layer on the first bridge contact layer, a second bridge contact layer on the first solder layer, a second solder layer on the second bridge contact layer, and a die contact directly coupled to one of the first and second die where the plurality of electrically conductive bridge interconnects are embedded in the substrate.
Abstract:
Die Anmeldung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Kontaktierung für ein gehäustes Funktionselement, mit folgenden Schritten: Bereitstellen eines mit einer Ausnehmung (10-2) versehenen Kunststoffsubstrats (10c), wobei in der Ausnehmung (10-2) des Kunststoffsubstrats (10c) das Funktionselement (12) platziert ist; und zumindest teilweises Umgeben des in der Ausnehmung (10-2) platzierten Funktionselements mit einem Vergusskunststoffmaterial (10d), um das in dem Kunststoffkörper zumindest teilweise eingebettete Funktionselement (12) zu erhalten, wobei in dem auf- oder eingebrachten Vergusskunststoffmaterial zumindest in einem Randbereich, der sich von der Oberfläche des Kunststoffkörpers (10) bis zu der zumindest einen Kontaktfläche (14, 16) erstreckt, ferner eine unter Einfluss elektromagnetischer Strahlung eine metallische Eigenschaft annehmende Materialkomponente vorhanden ist; Freilegen von zumindest einem Teilbereich der zumindest einen Kontaktfläche durch das Material des Kunststoffkörpers (10) hindurch; und Erzeugen einer Leiterbahnstruktur (26, 28), die sich von der zumindest einen Kontaktfläche des Funktionselements (12) zu einem zugeordneten Kontaktbereich (26-1) an der Oberfläche (10-1) des Kunststoffkörpers (10) erstreckt, durch lokales elektromagnetisches Bestrahlen der Oberfläche des mit der Materialkomponente versehenen Kunststoffkörpers im Bereich der zu erzeugenden Leiterbahnstruktur (26, 28).
Abstract:
Methods of forming a microelectronic packaging structure and associated structures formed thereby are described. Those methods may include a die embedded in a coreless substrate, wherein a mold compound surrounds the die, and wherein the die comprises TSV connections on a first side and C4 pads on a second side of the die, a dielectric material on a first side and on a second side of the mold compound; and interconnect structures coupled to the C4 pads and to the TSV pads. Embodiments further include forming packaging structures wherein multiple dies are fully embedded within a BBUL package without PoP lands.
Abstract:
Methods of forming a microelectronic packaging structure and associated structures formed thereby are described. Those methods may include forming a cavity in a carrier material, attaching a die in the cavity, wherein a backside of the die comprises a metal filled DBF, forming a dielectric material adjacent the die and on a bottom side of the carrier material, forming a coreless substrate by building up layers on the dielectric material, and removing the carrier material from the coreless substrate.
Abstract:
Methods of forming a microelectronic packaging structure and associated structures formed thereby are described. Those methods may include forming a cavity in a plating material to hold a die, attaching the die in the cavity, forming a dielectric material adjacent the die, forming vias in the dielectric material adjacent the die, forming PoP lands in the vias, forming interconnects in the vias, and then removing the plating material to expose the PoP lands and die, wherein the die is disposed above the PoP lands.
Abstract:
Elektronisches Bauteil (36) mit mindestens einem in einer Schichtabfolge eingebetteten elektronischen Bauelement (14), wobei das elektronische Bauelement (14) in einer Ausnehmung einer elektrisch leitenden zentralen Schicht (16) angeordnet ist und beiderseits unmittelbar an jeweils eine Harzschicht (12, 20) anschließt.
Abstract:
A microelectronic assembly (8) includes a first microelectronic package (10A) having a substrate (12) with first (14) and second (16) surfaces and substrate contacts (24). The first package further includes first and second microelectronic elements (40) having element contacts electrically connected with the substrate contacts (24) and spaced apart from one another on the first surface to provide an interconnect area between the first and second microelectronic elements. A plurality of package terminals (74) at the second surface are interconnected with the substrate contacts for connecting the package with an external component. A plurality of stack terminals (28) are exposed at the first surface in the interconnect area for connecting the package with a component overlying the first surface of the substrate. The assembly further includes a second microelectronic package (10B) overlying the first microelectronic package and having terminals (62) joined to the stack terminals of the first microelectronic package.