半导体封装及其制造方法

    公开(公告)号:CN105261570B

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201510404234.7

    申请日:2015-07-10

    摘要: 本发明构思的实施方式提供了半导体封装及其制造方法。该方法包括形成凹槽以使第一半导体芯片彼此分离。形成凹槽包括:在半导体基板的底表面上进行第一切片工艺以在相对于该底表面倾斜的方向上切割半导体基板以及模层的一部分,以及进行第二切片工艺以在基本上垂直于半导体基板的底表面的方向上切割模层。通过第一切片工艺形成在半导体基板中的凹槽的最小宽度可以大于通过第二切片工艺形成在模层中的凹槽的宽度。

    半导体封装件
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110867417B

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN201910249054.4

    申请日:2019-03-29

    发明人: 李斗焕 赵泰济

    IPC分类号: H01L23/31 H01L23/367

    摘要: 本公开提供一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:半导体芯片,具有有效表面和无效表面,所述有效表面上设置有连接焊盘,所述无效表面与所述有效表面背对;包封剂,覆盖所述半导体芯片的所述无效表面;热传导过孔,贯穿所述包封剂的在所述半导体芯片的所述无效表面上的至少部分,并且与所述半导体芯片的所述无效表面物理地间隔开;以及连接结构,设置在所述半导体芯片的所述有效表面上,并且包括电连接到所述连接焊盘的重新分布层。

    半导体封装件
    10.
    发明公开
    半导体封装件 审中-实审

    公开(公告)号:CN110867417A

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201910249054.4

    申请日:2019-03-29

    发明人: 李斗焕 赵泰济

    IPC分类号: H01L23/31 H01L23/367

    摘要: 本公开提供一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:半导体芯片,具有有效表面和无效表面,所述有效表面上设置有连接焊盘,所述无效表面与所述有效表面背对;包封剂,覆盖所述半导体芯片的所述无效表面;热传导过孔,贯穿所述包封剂的在所述半导体芯片的所述无效表面上的至少部分,并且与所述半导体芯片的所述无效表面物理地间隔开;以及连接结构,设置在所述半导体芯片的所述有效表面上,并且包括电连接到所述连接焊盘的重新分布层。