半導体装置
    15.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2018160554A

    公开(公告)日:2018-10-11

    申请号:JP2017056844

    申请日:2017-03-23

    摘要: 【課題】はんだ厚さを維持して、コンタクト部品の接合強度の低下を防止しつつ、コンタクト部品の中空孔へのはんだの這い上がりを防止することができる。 【解決手段】コンタクト部品17を凹状の接合領域13a1に配置させた後、はんだ19を固化すると、接合領域13a1内ではんだ19のはんだ厚さが維持される。したがって、コンタクト部品17とはんだ19の接触面積を維持することができると共に、コンタクト部品17と導電パターン13aとを接合するはんだ19のはんだ厚みを維持することができる。また、接合領域13a1内で適切な量のはんだ19が維持されるので、予めはんだ19の量を多く塗布しておく必要がない。そのため、コンタクト部品17を導電パターン13aに接合する際の加熱によるコンタクト部品17の中空孔17bへのはんだ19の這い上がりを抑えることができる。 【選択図】図3