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公开(公告)号:KR20210028077A
公开(公告)日:2021-03-11
申请号:KR1020200079217A
申请日:2020-06-29
IPC分类号: H01L23/498 , H01L23/00 , H01L23/31
CPC分类号: H01L21/568 , H01L23/49811 , H01L21/6835 , H01L21/6836 , H01L23/3135 , H01L23/498 , H01L23/538 , H01L24/20 , H01L25/16 , H01L2221/68331 , H01L2221/68345 , H01L2221/68372 , H01L2224/04105 , H01L2224/12105 , H01L2224/24145 , H01L2224/32145 , H01L2225/06548 , H01L23/3128
摘要: 칩 패키지 구조물이 제공된다. 칩 패키지 구조물은 배선 구조물을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 배선 구조물 위에 제1 칩 구조물을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 제1 칩 구조물을 둘러싸는 제1 몰딩층을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 제1 칩 구조물과 제1 몰딩층 위의 제2 칩 구조물을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 제2 칩 구조물을 둘러싸며 제1 칩 구조물과 제1 몰딩층 위에 있는 제2 몰딩층을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 제2 칩 구조물과 제2 몰딩층 위의 제3 칩 구조물을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 제3 칩 구조물을 둘러싸며 제2 칩 구조물과 제2 몰딩층 위에 있는 제3 몰딩층을 포함한다. 칩 패키지 구조물은 제2 몰딩층과 제3 몰딩층을 둘러싸는 제4 몰딩층을 포함한다.
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公开(公告)号:JP6420079B2
公开(公告)日:2018-11-07
申请号:JP2014139876
申请日:2014-07-07
IPC分类号: H01L27/04 , H01L21/3205 , H01L21/768 , H01L23/522 , H01L21/82 , H01L21/8238 , H01L27/092 , H01L21/8244 , H01L27/11 , H01L21/822
CPC分类号: H01L29/785 , H01L23/5286 , H01L23/538 , H01L24/16 , H01L24/32 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L25/105 , H01L27/0207 , H01L27/0629 , H01L27/092 , H01L27/0924 , H01L27/1211 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2225/1023 , H01L2225/1058 , H01L2924/00014 , H01L2924/15331 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
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公开(公告)号:JP2018530923A
公开(公告)日:2018-10-18
申请号:JP2018519378
申请日:2016-10-06
发明人: チャワレ,ラフナンダン , マジュムダール,アミタバ , オルーク,グレン , シン,インダージット
IPC分类号: H01L25/07 , H01L25/18 , H01L25/04 , H01L25/065
CPC分类号: H01L23/5385 , H01L21/561 , H01L21/568 , H01L21/6835 , H01L22/14 , H01L23/3114 , H01L23/538 , H01L23/5381 , H01L23/5383 , H01L23/5384 , H01L23/5386 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/17 , H01L24/81 , H01L24/92 , H01L24/94 , H01L24/96 , H01L25/0652 , H01L25/0655 , H01L25/18 , H01L2221/68327 , H01L2221/68331 , H01L2221/68372 , H01L2224/03312 , H01L2224/0332 , H01L2224/0345 , H01L2224/03462 , H01L2224/12105 , H01L2224/131 , H01L2224/16145 , H01L2224/16227 , H01L2224/1703 , H01L2224/17051 , H01L2224/17181 , H01L2224/73204 , H01L2224/81191 , H01L2224/92 , H01L2224/94 , H01L2924/14 , H01L2924/1431 , H01L2924/1434 , H01L2924/1461 , H01L2924/1515 , H01L2924/152 , H01L2924/153 , H01L2924/15311 , H01L2224/03 , H01L2924/014 , H01L2924/00014 , H01L21/78 , H01L2221/68304 , H01L2224/81 , H01L21/56 , H01L21/304 , H01L2224/11 , H01L2221/68381 , H01L22/00 , H01L2224/1181
摘要: ダイからダイへの相互接続のための相互接続ダイ(106)を有する半導体アセンブリと、ICパッケージ(100)と、製造のための方法と、ICパッケージ中で信号をルーティングするための方法とを提供するための技術が記載される。1つの実現例では、ダイ間接続部(108)によって第1の集積回路(IC)ダイ(102)および第2のICダイ(102)に結合される第1の相互接続ダイ(106)を含む半導体アセンブリが設けられる。第1の相互接続ダイは、ICダイ同士の間に信号伝送経路を設ける固体回路構成(122)を含む。
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公开(公告)号:JPWO2016056409A1
公开(公告)日:2017-07-20
申请号:JP2016553045
申请日:2015-09-28
IPC分类号: H01L23/522 , H01L21/3205 , H01L21/768 , H01L21/822 , H01L27/04 , H01L27/14
CPC分类号: H01L23/5225 , H01L21/3205 , H01L21/4853 , H01L21/4857 , H01L21/486 , H01L21/768 , H01L21/822 , H01L23/00 , H01L23/49822 , H01L23/522 , H01L23/5226 , H01L23/538 , H01L27/00 , H01L27/04 , H01L27/146 , H01L27/14623 , H01L27/14636 , H01L2924/0002 , H04N5/357 , H04N5/369 , H01L2924/00
摘要: 本開示は、一方の基板から発生するノイズが他方の基板に与える悪影響を抑制することができるようにする積層型デバイスおよび製造方法、並びに、電子機器に関する。一方の基板の接合面に第1の金属層が形成され、その一方の基板に対して積層される他方の基板の接合面に第2の金属層が形成される。そして、一方の基板の金属層と他方の基板の金属層とを接合して電位固定することによって、一方の基板と他方の基板との間で電磁波を遮断する電磁波シールド構造を構成する。本技術は、例えば、積層型のCMOSイメージセンサに適用できる。
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公开(公告)号:JP5925611B2
公开(公告)日:2016-05-25
申请号:JP2012139456
申请日:2012-06-21
申请人: ルネサスエレクトロニクス株式会社
IPC分类号: H01L23/532 , H01L21/316 , H01L21/768
CPC分类号: H01L23/5226 , H01L21/768 , H01L21/76807 , H01L21/7682 , H01L21/76825 , H01L21/76831 , H01L21/76835 , H01L23/5222 , H01L23/53238 , H01L23/5329 , H01L23/53295 , H01L23/538 , H01L23/5384 , H01L24/05 , H01L21/76826 , H01L2221/1036 , H01L2221/1047 , H01L2224/02166 , H01L2224/05556 , H01L2924/1306
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公开(公告)号:JP2014521223A
公开(公告)日:2014-08-25
申请号:JP2014520278
申请日:2012-07-11
申请人: インヴェンサス・コーポレイション
发明人: ハーバ,ベルガセム , ゾーニ,ワエル , クリスプ,リチャード・デューイット , モハメッド,イリヤス
IPC分类号: H01L25/04 , H01L25/00 , H01L25/065 , H01L25/07 , H01L25/18
CPC分类号: H01L23/481 , G11C5/04 , H01L23/12 , H01L23/13 , H01L23/3128 , H01L23/36 , H01L23/49838 , H01L23/538 , H01L23/5386 , H01L24/06 , H01L24/09 , H01L24/29 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L25/0652 , H01L25/0655 , H01L25/0657 , H01L25/18 , H01L27/108 , H01L2224/0401 , H01L2224/061 , H01L2224/091 , H01L2224/16225 , H01L2224/16227 , H01L2224/291 , H01L2224/2919 , H01L2224/29193 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/48145 , H01L2224/48227 , H01L2224/4824 , H01L2224/73204 , H01L2224/73215 , H01L2224/73253 , H01L2224/73265 , H01L2225/06506 , H01L2225/0651 , H01L2225/06517 , H01L2225/06541 , H01L2225/06562 , H01L2225/06589 , H01L2924/00014 , H01L2924/01322 , H01L2924/1203 , H01L2924/1205 , H01L2924/1431 , H01L2924/1432 , H01L2924/1433 , H01L2924/14335 , H01L2924/1434 , H01L2924/1436 , H01L2924/1438 , H01L2924/1443 , H01L2924/15311 , H01L2924/15312 , H01L2924/15313 , H01L2924/157 , H01L2924/15786 , H01L2924/15787 , H01L2924/15788 , H01L2924/1579 , H01L2924/181 , H01L2924/18161 , H01L2924/18165 , H01L2924/19041 , H01L2924/19105 , H01L2924/301 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
摘要: 超小型電子パッケージ510が、対向する第1の表面521及び第2の表面527を有する基板520と、超小型電子素子の少なくとも2つの対507a、512bと、第2の表面において露出した複数の端子525とを備えることができる。 超小型電子素子の各対507は、上側超小型電子素子530b及び下側超小型電子素子530aを含むことができる。 超小型電子素子の対507は、基板520の第1の表面521に対して平行な水平方向Hにおいて互いに十分離間することができる。 各下側超小型電子素子530aは、前面531と、この前面における複数のコンタクト535とを有することができる。 上側超小型電子素子530bのそれぞれの表面531は、基板520の第1の表面521及びその対内の下側超小型電子素子530aの上に少なくとも部分的に重なることができる。
【選択図】図5A摘要翻译: 微电子封装可以包括具有第一和第二相对表面的衬底,至少两对微电子元件和在第二表面处暴露的多个端子。 每对微电子元件可以包括上微电子元件和下微电子元件。 这些微电子元件对可以在平行于衬底的第一表面的水平方向上彼此完全间隔开。 每个下部微电子元件可以具有面向基板的第一表面的前表面和在前表面处的多个触点。 每个上部微电子元件的表面可以至少部分地覆盖在其对中的下部微电子元件的后表面。 微电子封装还可以包括从每个下部微电子元件的至少一些触点延伸到至少一些端子的电连接。
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公开(公告)号:JP2014517531A
公开(公告)日:2014-07-17
申请号:JP2014513727
申请日:2012-06-01
发明人: アラン ウエスト ジェフェリー
IPC分类号: H01L21/603 , H01L21/3205 , H01L21/768 , H01L23/522
CPC分类号: H01L23/538 , H01L21/563 , H01L23/481 , H01L23/562 , H01L24/13 , H01L24/14 , H01L24/16 , H01L24/32 , H01L24/81 , H01L2224/13009 , H01L2224/13025 , H01L2224/13027 , H01L2224/13082 , H01L2224/13083 , H01L2224/131 , H01L2224/13147 , H01L2224/13566 , H01L2224/1357 , H01L2224/13582 , H01L2224/13644 , H01L2224/13655 , H01L2224/13657 , H01L2224/13664 , H01L2224/13666 , H01L2224/13671 , H01L2224/13673 , H01L2224/13681 , H01L2224/14181 , H01L2224/1613 , H01L2224/16146 , H01L2224/16148 , H01L2224/16225 , H01L2224/16227 , H01L2224/32225 , H01L2224/73204 , H01L2224/81002 , H01L2224/81005 , H01L2224/81007 , H01L2224/81203 , H01L2224/81801 , H01L2924/1461 , H01L2924/15311 , H01L2924/3511 , H01L2924/3512 , H01L2924/014 , H01L2924/00 , H01L2924/00014 , H01L2924/01015 , H01L2924/01005 , H01L2924/01074
摘要: 基板貫通ビア(TSV)をダイボンディング損傷から保護する方法(100)が、アクティブ回路要素を含む頂部側と、底部側と、複数のTSVとを有する複数のTSVダイを含む基板を提供すること(101)を含み、複数のTSVが、頂部側から、底部側から外に延びる突出するTSVティップまで達する内部金属コアを含む。 保護層が、突出するTSVティップの間及びその上を含んで、TSVダイの底部側に形成されるか又はつけられる(102)。 TSVダイは、その頂部側を下にワークピース表面を有するワークピース上に、その底部側を下にし、ボンドヘッドに接してボンディングされる(104)。 保護層は、突出するTSVティップにボンドヘッドが直接接触しないようにすることにより、TSVダイの歪みを含むボンディングプロセスから損傷を低減する。
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公开(公告)号:JP3802936B2
公开(公告)日:2006-08-02
申请号:JP1334294
申请日:1994-02-07
发明人: ウルフガング・ダウム , エリック・ジョセフ・ウィルディ , ハーバート・スタンレイ・コール , マイケル・グデュラ , レイモンド・アルバート・フィリオン , ロバート・ジョン・ウォジュナロースキイ
IPC分类号: H01L23/52 , H01L25/18 , H01L21/56 , H01L21/58 , H01L21/68 , H01L23/29 , H01L23/433 , H01L23/538 , H01L25/04 , H01L25/065
CPC分类号: H01L21/568 , H01L21/6835 , H01L23/293 , H01L23/295 , H01L23/4334 , H01L23/538 , H01L23/5389 , H01L24/24 , H01L24/29 , H01L24/82 , H01L24/83 , H01L24/96 , H01L25/0652 , H01L25/0657 , H01L25/105 , H01L2224/04105 , H01L2224/2402 , H01L2224/24137 , H01L2224/24195 , H01L2224/2518 , H01L2224/2919 , H01L2224/82039 , H01L2224/83192 , H01L2224/8385 , H01L2225/06517 , H01L2225/0652 , H01L2225/06524 , H01L2225/06541 , H01L2225/06551 , H01L2225/06589 , H01L2225/1035 , H01L2225/1058 , H01L2225/1064 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01015 , H01L2924/01027 , H01L2924/01029 , H01L2924/01032 , H01L2924/01033 , H01L2924/01039 , H01L2924/01042 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/0132 , H01L2924/014 , H01L2924/0665 , H01L2924/07802 , H01L2924/12042 , H01L2924/14 , H01L2924/18162 , H01L2924/19041 , H01L2924/19042 , H01L2924/19043 , Y10T29/49144 , H01L2924/00 , H01L2924/01022 , H01L2924/01074 , H01L2924/3512
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公开(公告)号:JP3359865B2
公开(公告)日:2002-12-24
申请号:JP11987498
申请日:1998-03-25
发明人: アイグナー エヴァ , カッツ ドゥロア , ハーウィッツ ドゥロア , ヨフィス ボリス
IPC分类号: H01L21/48 , H01L21/768 , H01L23/532 , H01L23/538 , H05K3/46 , H01L23/522
CPC分类号: H05K3/4647 , H01L21/4846 , H01L21/4857 , H01L21/76885 , H01L23/53223 , H01L23/538 , H01L23/5383 , H01L23/5384 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L2224/32225 , H01L2224/48227 , H01L2224/48228 , H01L2224/48235 , H01L2224/73265 , H01L2924/00011 , H01L2924/00014 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/01078 , H01L2924/09701 , H01L2924/14 , H01L2924/19041 , H01L2924/3011 , H05K2203/0315 , H05K2203/1142 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207 , H01L2924/01005 , H01L2924/01033
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公开(公告)号:JPS61112362A
公开(公告)日:1986-05-30
申请号:JP23310584
申请日:1984-11-07
申请人: Hitachi Ltd
IPC分类号: H01L25/18 , H01L23/538 , H01L25/04 , H01L25/065
CPC分类号: H01L23/538 , H01L25/0655 , H01L2224/16145 , H01L2224/48 , H01L2224/48091 , H01L2924/10253 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要: PURPOSE:To improve reliability of a semiconductor, device by providing an insulating film, which has the approximately same or close thermal expansion coefficient as the thermal expansion coefficient of a semiconductor chip having the different material, selectively, in the multiple-chip type semiconductor device, on which a silicon chip and a gallium arsenide chip are mounted as a mixed manner. CONSTITUTION:A gallium arsenide chip 9 is used at a part where high speed operation is to be performed. A silicon chip 7 is used at a part where high degree of integration is required. An insulating film 10, which is made of a material having the approximately same or close thermal expansion coefficient as the thermal expansion coefficient of the gallium arsenide chip 9, is selectively provided. The gallium arsenide chip 9 is mounted on the insulating film 10. The silicon chip 7 having high degree of integration and the high speed gallium arsenide chip 9 are provided in a multiple-chip type semiconductor device in a mixed manner. Thus the high density and high speed can be implemented in said semiconductor device and highly reliable mounting can be achieved.
摘要翻译: 目的:通过在多芯片型半导体器件中选择性地提供具有与具有不同材料的半导体芯片的热膨胀系数大致相同或接近的热膨胀系数的绝缘膜来提高半导体器件的可靠性, ,以其混合的方式安装硅芯片和砷化镓芯片。 构成:在要执行高速运行的部分使用砷化镓芯片9。 在需要高度集成度的部分使用硅芯片7。 选择性地提供由具有与砷化镓芯片9的热膨胀系数大致相同或接近的热膨胀系数的材料制成的绝缘膜10。 砷化镓芯片9安装在绝缘膜10上。具有高集成度的硅芯片7和高速砷化镓芯片9以混合的方式设置在多芯片型半导体器件中。 因此,可以在所述半导体器件中实现高密度和高速度,并且可以实现高度可靠的安装。
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