平衡有虚设铜图案的嵌入PCB单元表面的半导体器件和方法

    公开(公告)号:CN104576517B

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201410451734.1

    申请日:2014-09-05

    Abstract: 平衡有虚设铜图案的嵌入PCB单元表面的半导体器件和方法。半导体器件具有衬底。导电通孔穿过衬底而形成。多个第一接触焊盘在衬底的第一表面上方形成。多个第二接触焊盘在衬底的第二表面上方形成。虚设图案在衬底的第二表面上方形成。缺口在衬底的侧壁中形成。开口穿过衬底而形成。密封剂被沉积在开口中。绝缘层在衬底的第二表面上方形成。虚设开口在绝缘层中形成。半导体管芯被布置成邻近于衬底。密封剂被沉积在半导体管芯和衬底上方。衬底的第一表面包括比衬底的第二表面的宽度大的宽度。

    形成通过封装剂之上的绝缘层的开口供互连结构的增强粘合性的半导体器件和方法

    公开(公告)号:CN102569097B

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201110429755.X

    申请日:2011-12-09

    Abstract: 半导体器件具有安装到载体的半导体小片。封装剂沉积在半导体小片和载体之上。去除载体。在半导体小片的占用面积外部的互连部位中的封装剂的一部分之上形成第一绝缘层。开口形成为通过互连部位中的第一绝缘层,以便露出封装剂。开口能够是环形的或是互连部位周围以及互连部位的中心区域中的通孔,以便露出封装剂。在第一绝缘层之上形成第一导电层,以便跟随第一绝缘层的轮廓。在第一导电层和外露封装剂之上形成第二导电层。在第二导电层之上形成第二绝缘层。在互连部位中的第二导电层之上形成凸块。

    在半导体管芯上形成支撑层的半导体器件和方法

    公开(公告)号:CN103715104A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201310385249.4

    申请日:2013-08-30

    Inventor: 林耀剑 陈康 顾煜

    Abstract: 本发明涉及在半导体管芯上形成支撑层的半导体器件和方法。一种半导体器件包括半导体管芯。密封剂在半导体管芯周围形成。堆积互连结构在半导体管芯的第一表面和密封剂上形成。第一支撑层在半导体管芯的第二表面上形成为与堆积互连结构相对布置的支撑基板或硅晶片。第二支撑层在第一支撑层上形成并且包括纤维增强聚合复合物材料,该纤维增强聚合复合物材料包括所包含的面积大于或等于半导体管芯的占位区的面积的占位区。该半导体管芯包括小于450微米(µm)的厚度。半导体管芯的厚度比半导体器件的总厚度与堆积互连结构和第二支撑层的厚度之间的差异小至少1µm。

Patent Agency Ranking