ICチップ実装パッケージ
    73.
    发明申请
    ICチップ実装パッケージ 审中-公开
    IC芯片安装包

    公开(公告)号:WO2007052761A1

    公开(公告)日:2007-05-10

    申请号:PCT/JP2006/321998

    申请日:2006-11-02

    Abstract:  本発明に係る液晶ドライバ実装パッケージ(1a)は、ドライバソケット(4a)を介してフィルム基材(2)と液晶ドライバ(3)とが接続している。ドライバソケット(4a)におけるフィルム基材(2)側の接続端子は、液晶ドライバ(3)側の接続端子よりもピッチが大きく形成されている。これにより、フィルム基材(2)のフィルム上配線(5・6)は、既存技術を用いて形成することができ、液晶ドライバ(3)は、ファインピッチ化が可能となるため、微細プロセスを用いて形成することができる。

    Abstract translation: 在液晶驱动器安装的封装(1a)中,通过驱动器插座(4a)连接薄膜基板(2)和液晶驱动器(3)。 驱动器插座(4a)的薄膜基板(2)侧的连接端子的间距大于液晶驱动器(3)侧的连接端子的间距。 由于可以通过使用现有技术形成薄膜基板(2)的膜上的布线(5,6),所以可以通过使用微细加工工艺以更细的间距形成液晶驱动器(3)。

    半導体装置
    80.
    发明申请
    半導体装置 审中-公开
    半导体器件

    公开(公告)号:WO2005031871A1

    公开(公告)日:2005-04-07

    申请号:PCT/JP2004/013964

    申请日:2004-09-24

    Abstract:  この半導体装置は、半導体基板の薄型化部分の撓み及び割れを防止し、光検出部に対する高精度なフォーカシング及び光検出部における高い感度の均一性及び安定性を維持することができる。半導体装置1は、半導体基板10、配線基板20、導電性バンプ30、及び樹脂32を備える。半導体基板10にはCCD12と薄型化部分14とが形成されている。半導体基板10の電極16は、導電性バンプ30を介して配線基板20の電極22と接続されている。また、配線基板20には、薄型化部分14に対向する領域を囲む溝部26aと、溝部26aから配線基板20の露出面まで延びる溝部26bとが形成されている。薄型化部分14の外縁部15と配線基板20との間の空隙には、導電性バンプ30の接合強度を補強するため、絶縁性の樹脂32が充填されている。

    Abstract translation: 可以通过防止半导体衬底的薄化部分弯曲或破裂,从而可以保持在光电检测部分的高精度聚焦以及在光电检测部分的高灵敏度的均匀性和稳定性的半导体器件。 半导体器件(1)包括半导体衬底(10),布线板(20),导电凸块(30)和树脂(32)。 在半导体衬底(10)上形成CCD(12)和薄化部分(14)。 半导体衬底(10)的电极(16)通过导电凸块(30)与布线板(20)的电极(22)连接。 在所述布线基板(20)上形成有围绕所述减薄部(14)的区域的槽部(26a)和从所述槽部(26a)延伸到所述布线基板(20)的露出面的另一槽部(26b) )。 为了增强导电凸块(30)的接合强度,减薄部分(14)的外边缘部分(15)与布线板(20)之间的间隙填充有绝缘树脂(32)。

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