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公开(公告)号:WO2014065199A1
公开(公告)日:2014-05-01
申请号:PCT/JP2013/078261
申请日:2013-10-18
Applicant: 東レエンジニアリング株式会社
IPC: H01L21/60
CPC classification number: H01L24/75 , H01L21/67109 , H01L2224/75502
Abstract: ボンディングツールを効率よく冷却できアタッチメントツールの温度ムラやアタッチメントツールの外れやずれの発生することない、ボンディングツール冷却装置およびボンディングツール冷却方法を提供すること。具体的には、被接合物を吸着保持するアタッチメントツールと、アタッチメントツールを加熱するヒーターと、アタッチメントツールをヒーターに吸着保持する吸着機構とを備えるボンディングツールを冷却するボンディングツール冷却装置であって、ボンディングツールの外周に位置し、アタッチメントツールの吸着解除の後にアタッチメントツールを保持するアタッチメントホルダと、アタッチメントツールとヒーターの間に冷却エアーを供給する冷却ブロー用ノズルと、を備えるボンディングツール冷却装置およびボンディングツール冷却方法を提供する。
Abstract translation: 提供了一种粘合工具冷却装置,由此能够有效地冷却接合工具,并且不会产生安装工具中的温度不均匀性以及安装工具的移动和偏移; 和焊接工具冷却方法。 具体地说,该接合工具冷却装置冷却接合工具,该接合工具设置有通过吸附保持要接合的被检体的附接工具,加热附接工具的加热器和吸附机构, 工具加热器。 接合工具冷却装置设置有:安装保持器,其位于接合工具的外周上,并且在停止附接工具的抽吸之后保持附接工具; 以及用于冷却吹风的喷嘴,所述喷嘴将冷却空气供给到附接工具和加热器之间。
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公开(公告)号:WO2016175653A2
公开(公告)日:2016-11-03
申请号:PCT/NL2016/050295
申请日:2016-04-26
Inventor: ARUTINOV, Gari , SMITS, Edsger Constant Pieter , VAN DEN BRAND, Jeroen
IPC: H01L21/60 , H01L21/67 , H01L21/683 , H01L21/98
CPC classification number: H01L24/75 , H01L21/6835 , H01L21/6836 , H01L24/11 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/81 , H01L24/97 , H01L2221/68354 , H01L2221/68381 , H01L2224/1131 , H01L2224/1132 , H01L2224/131 , H01L2224/16227 , H01L2224/75252 , H01L2224/75253 , H01L2224/7526 , H01L2224/75502 , H01L2224/75611 , H01L2224/7565 , H01L2224/75702 , H01L2224/75753 , H01L2224/75804 , H01L2224/75824 , H01L2224/759 , H01L2224/7598 , H01L2224/81005 , H01L2224/81191 , H01L2224/81192 , H01L2224/81193 , H01L2224/81224 , H01L2224/8123 , H01L2224/81815 , H01L2224/97 , H05K3/3436 , H05K3/3494 , H05K2201/0145 , H01L2924/014 , H01L2224/81 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014
Abstract: An apparatus and method for soldering chips (1a,1b) to a substrate (3). A substrate (3) and two or more different chips (1a,1b) having different heating properties are provided. A solder material (2) is disposed between the chips (1a,1b) and the substrate (3). A flash lamp (5) generates a light pulse (6) for heating the chips (1a,1b), wherein the solder material (2) is at least partially melted by contact with the heated chips (1a,1b). A masking device (7) is disposed between the flash lamp (5) and the chips (1a,1b) causing different light intensities (Ia,Ib) in different areas (6a,6b) of the light pulse (6) passing the masking device (7) thereby heating the chips (1a,1b) with different light intensities (Ia,Ib). This may compensate the different heating properties to reduce a spread in temperature between the chips as a result of the heating by the light pulse (6).
Abstract translation: 一种将芯片(1a,1b)焊接到基板(3)上的装置和方法。 提供了具有不同加热特性的基板(3)和两个或更多个不同的芯片(1a,1b)。 在芯片(1a,1b)和基板(3)之间设置焊料(2)。 闪光灯(5)产生用于加热芯片(1a,1b)的光脉冲(6),其中焊料材料(2)通过与加热的芯片(1a,1b)接触而至少部分地熔化。 掩模装置(7)设置在闪光灯(5)和芯片(1a,1b)之间,在通过掩模的光脉冲(6)的不同区域(6a,6b)中引起不同的光强度(Ia,Ib) 装置(7),从而以不同的光强度(Ia,Ib)加热芯片(1a,1b)。 这可以补偿不同的加热性能,以减少由于光脉冲(6)的加热而导致的芯片之间的温度扩散。
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公开(公告)号:WO2013161891A1
公开(公告)日:2013-10-31
申请号:PCT/JP2013/062100
申请日:2013-04-24
Applicant: 須賀 唯知 , ボンドテック株式会社
IPC: H01L21/60 , H01L25/065 , H01L25/07 , H01L25/18 , H05K3/32
CPC classification number: H01L25/0652 , B23K31/02 , B23K37/00 , B23K37/0408 , B23K2201/40 , H01L21/6836 , H01L22/10 , H01L23/10 , H01L23/562 , H01L24/03 , H01L24/05 , H01L24/06 , H01L24/08 , H01L24/09 , H01L24/11 , H01L24/13 , H01L24/14 , H01L24/16 , H01L24/17 , H01L24/27 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L24/33 , H01L24/73 , H01L24/74 , H01L24/742 , H01L24/743 , H01L24/75 , H01L24/80 , H01L24/81 , H01L24/83 , H01L24/94 , H01L24/95 , H01L25/105 , H01L25/50 , H01L2221/68327 , H01L2224/0384 , H01L2224/03845 , H01L2224/0401 , H01L2224/05009 , H01L2224/05611 , H01L2224/05644 , H01L2224/05647 , H01L2224/05655 , H01L2224/06134 , H01L2224/0615 , H01L2224/06177 , H01L2224/08145 , H01L2224/08225 , H01L2224/09181 , H01L2224/1184 , H01L2224/11845 , H01L2224/13009 , H01L2224/13016 , H01L2224/13017 , H01L2224/13021 , H01L2224/13022 , H01L2224/13111 , H01L2224/13144 , H01L2224/13147 , H01L2224/13155 , H01L2224/14134 , H01L2224/1415 , H01L2224/14177 , H01L2224/16145 , H01L2224/16225 , H01L2224/16227 , H01L2224/17181 , H01L2224/27009 , H01L2224/2755 , H01L2224/27823 , H01L2224/2784 , H01L2224/27845 , H01L2224/29111 , H01L2224/29144 , H01L2224/29147 , H01L2224/29155 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/33181 , H01L2224/73103 , H01L2224/74 , H01L2224/7501 , H01L2224/75101 , H01L2224/75102 , H01L2224/7525 , H01L2224/75251 , H01L2224/75252 , H01L2224/75283 , H01L2224/753 , H01L2224/75301 , H01L2224/7531 , H01L2224/75501 , H01L2224/75502 , H01L2224/7565 , H01L2224/75701 , H01L2224/75702 , H01L2224/75753 , H01L2224/75802 , H01L2224/75804 , H01L2224/75824 , H01L2224/75842 , H01L2224/7598 , H01L2224/80003 , H01L2224/8001 , H01L2224/80013 , H01L2224/80065 , H01L2224/8013 , H01L2224/80132 , H01L2224/80143 , H01L2224/80201 , H01L2224/80203 , H01L2224/8022 , H01L2224/8023 , H01L2224/80447 , H01L2224/8083 , H01L2224/80907 , H01L2224/81002 , H01L2224/8101 , H01L2224/81013 , H01L2224/81065 , H01L2224/8113 , H01L2224/81132 , H01L2224/81143 , H01L2224/81193 , H01L2224/81201 , H01L2224/81203 , H01L2224/8122 , H01L2224/8123 , H01L2224/81447 , H01L2224/81801 , H01L2224/81805 , H01L2224/8183 , H01L2224/81907 , H01L2224/83002 , H01L2224/8301 , H01L2224/83013 , H01L2224/83048 , H01L2224/83051 , H01L2224/83065 , H01L2224/83091 , H01L2224/8313 , H01L2224/83132 , H01L2224/83136 , H01L2224/83143 , H01L2224/83193 , H01L2224/83201 , H01L2224/83203 , H01L2224/8322 , H01L2224/8323 , H01L2224/83234 , H01L2224/83355 , H01L2224/83447 , H01L2224/83801 , H01L2224/8383 , H01L2224/83894 , H01L2224/83907 , H01L2224/94 , H01L2224/97 , H01L2225/06513 , H01L2225/06517 , H01L2225/06565 , H01L2225/1023 , H01L2225/1058 , H01L2924/01322 , H01L2924/10157 , H01L2924/10253 , H01L2924/3511 , H01L2224/81 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014 , H01L2924/01047 , H01L2224/80 , H01L2224/83 , H01L2924/00
Abstract: 【課題】接合界面に樹脂などの望ましくない残存物を残さないようにして、チップとウエハとの間又は積層された複数のチップ間の電気的接続を確立し機械的強度を上げる、ウエハ上にチップを効率よく接合する技術を提供すること。 【解決手段】金属領域を有するチップ側接合面を有する複数のチップを、複数の接合部を有する基板に接合する方法が、チップ側接合面の金属領域を、表面活性化処理し、かつ親水化処理するステップ(S1)と、基板の接合部を表面活性化処理し、かつ親水化処理するステップ(S2)と、表面活性化処理されかつ親水化処理された複数のチップを、それぞれ、チップの金属領域が基板の接合部に接触するように、表面活性化処理されかつ親水化処理された基板の対応する接合部上に取り付けるステップ(S3)と、基板と基板上に取り付けられた複数のチップとを含む構造体を加熱するステップ(S4)とを備える。
Abstract translation: [问题]提供一种用于将晶片高效地接合到晶片而不在接合界面上留下不需要的残留物(例如树脂)的技术,建立芯片和晶片之间或多个分层芯片之间的电连接并增加机械强度。 [解决方案]本发明的用于将包含金属区域的芯片侧接合表面的多个芯片接合到包括多个接合部分的基板的本发明的方法具有以下步骤:(S1)其中芯片的金属区域 接合表面进行表面活化处理和亲水化处理; 步骤(S2),其中对所述基板的接合部进行表面活化处理和亲水化处理; 已经进行表面活化处理和亲水化处理的多个芯片中的每一个被附着到已进行了表面活化处理和亲水化处理的基板上的相应接合部分的步骤(S3) 处理,使得芯片的金属区域与基板的接合部分接触; 以及步骤(S4),其中包括基板和附接到基板的多个芯片的结构被加热。
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公开(公告)号:WO2013046991A1
公开(公告)日:2013-04-04
申请号:PCT/JP2012/070868
申请日:2012-08-10
Applicant: 東京エレクトロン株式会社 , 小林 将人 , 飯田 到 , 杉山 雅彦 , 渡辺 真二郎
IPC: H01L21/60 , H01L25/065 , H01L25/07 , H01L25/18 , H05K13/04
CPC classification number: H01L24/81 , H01L24/16 , H01L24/75 , H01L25/0657 , H01L25/50 , H01L2224/16145 , H01L2224/75251 , H01L2224/75252 , H01L2224/75253 , H01L2224/75502 , H01L2224/75843 , H01L2224/81138 , H01L2224/81815 , H01L2225/06513 , H01L2225/06541 , H01L2225/06575
Abstract: 半導体デバイスの製造のスループットをさらに向上できるとともに、製造される半導体デバイスの品質の低下を防止できる三次元実装装置を提供する。三次元実装装置11において、搬送トレイ16は配置面16aaをそれぞれ含む8つの内側トレイ16aを有し且つ各配置面16aaに配置された8つの積層チップ21を搬送し、チャンバ27は全ての内側トレイ16aを収容し、複数の下部ステージ28の各々はチャンバ27内において複数の内側トレイ16aの各々を載置し、複数のチャック29の各々は、チャンバ27内において、配置面16aaに配置された積層チップ21の各々と一対一で対応して配設され、各下部ステージ28及び各複数のチャック29が各下部ステージ28及び各複数のチャック29の間を詰めるように移動する。
Abstract translation: 本发明提供一种能够进一步提高半导体装置的制造成本的三维安装装置,并且能够防止制造的半导体装置的质量降低。 在三维安装装置(11)中,传送托盘(16)具有八个内部托盘(16a),每个内部托盘(16a)包括一个布置表面(16aa),并且传送八个层压芯片(21),每个层叠芯片设置在每个布置 表面(16aa)。 室(27)容纳所有的内部托盘(16a),并且多个内部托盘(16a)中的每一个安装在室(27)内部的多个下层(28)的相应的台上。 多个卡盘(29)中的每一个设置成与设置在腔室(27)内部的设置表面(16a)上的相应的层叠芯片(21)一一对应,并且每个下级(28)和每个 多个卡盘(29)的移动使得每个下级(28)与多个卡盘(29)中的每一个之间的空间缩短。
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公开(公告)号:WO2005122237A1
公开(公告)日:2005-12-22
申请号:PCT/JP2005/010218
申请日:2005-06-03
IPC: H01L21/60
CPC classification number: H05K3/3436 , H01L24/75 , H01L24/81 , H01L2224/75 , H01L2224/75502 , H01L2224/75743 , H01L2224/75745 , H01L2224/81801 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01033 , H01L2924/0105 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/14 , H01L2924/3511 , H05K2203/0195 , H05K2203/0278 , Y02P70/613
Abstract: 従来、加工歪みや吸着ノズルに吸着されたときに変形が生じて平面性が損なわれおそれがあった薄型化のICチップを、吸着面(11b)が平坦に形成された吸着ノズル(11)により所定荷重で基板(4)に押し付けることにより変形を矯正し、電極に形成された半田バンプ(1a)を溶融させる加熱に伴う熱膨張によりICチップと基板(4)との所定対向間隔の減少を吸着ノズル(11)の上昇制御によって補正し、冷却により熱膨張していた部位が収縮するのに伴う溶融部の引き剥がし作用を吸着ノズル(11)の下降制御によって補正することにより、変形が生じやすい薄型化のICチップや狭ピッチで多数の電極が形成されているICチップ等の電子部品であっても正確に基板に実装することを可能にする電子部品の実装方法及び実装装置を実現する。
Abstract translation: 存在由于通过吸嘴吸引IC芯片时产生的工艺变形和变形而导致薄IC芯片的平面度劣化的可能性。 通过具有形成为平坦的吸入面(11b)的吸嘴(11)将具有规定负荷的薄板IC片压在板(4)上来进行变形。 通过控制吸嘴(11)的升高来校正由于由用于熔化形成在电极上的焊料凸块(1a)的热引起的热膨胀而导致IC芯片和板(4)之间的规定的相对间隔的减小 )。 通过控制吸嘴(11)的下降来校正由于通过冷却而热膨胀和收缩的部分的熔化部分的剥离作用。 因此,提供电子部件安装方法和电子部件安装装置,用于正确地安装诸如薄IC芯片容易变形的电子部件和其中以窄间距形成多个电极的IC芯片。
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公开(公告)号:WO2014141514A1
公开(公告)日:2014-09-18
申请号:PCT/JP2013/075478
申请日:2013-09-20
Applicant: 株式会社新川
Inventor: 瀬山 耕平
IPC: H01L21/60
CPC classification number: H01L24/75 , B23K3/085 , B23K37/04 , H01L24/81 , H01L2224/131 , H01L2224/16225 , H01L2224/16227 , H01L2224/2919 , H01L2224/32225 , H01L2224/73104 , H01L2224/73204 , H01L2224/75501 , H01L2224/75502 , H01L2224/75621 , H01L2224/7565 , H01L2224/75745 , H01L2224/81191 , H01L2224/81815 , H01L2224/81948 , H01L2224/83 , H01L2224/83191 , H01L2224/83862 , H01L2224/9211 , H01L2924/3701 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014 , H01L2924/014 , H01L2224/81 , H01L2924/00
Abstract: フリップチップボンダにおいて、半導体チップ(20)を反転させる吸着反転コレット(30)と、吸着反転コレット(30)で反転させた半導体チップ(20)を吸着反転コレット(30)から受け取って回路基板(65)にボンディングするボンディングツール(50)とを有し、吸着反転コレット(30)は内部に冷却空気を流通させて吸着反転コレット(30)を冷却する冷却流路を備え、ボンディング品質を低下させずにボンディング時間を短縮できる。
Abstract translation: 一种倒装芯片连接器,包括:用于使半导体芯片(20)反相的拾取器反相夹头(30); 以及接合工具(50),其在从所述拾取器翻转夹头(30)被所述拾取器翻转夹头(30)反转之后接收所述半导体芯片(20),并将其粘合到电路板(65)。 拾取器翻转夹头(30)设置有用于在内部分配冷却空气以冷却拾取器翻转夹头(30)的冷却流动路径。 结果,可以缩短接合时间,而不降低接合质量。
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公开(公告)号:WO2012086771A1
公开(公告)日:2012-06-28
申请号:PCT/JP2011/079855
申请日:2011-12-22
Applicant: ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 , 田中 芳人
Inventor: 田中 芳人
CPC classification number: H01L24/75 , H01L24/32 , H01L24/83 , H01L2224/2919 , H01L2224/32225 , H01L2224/75 , H01L2224/75252 , H01L2224/75253 , H01L2224/75502 , H01L2224/7598 , H01L2224/83204 , H01L2224/83862 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01024 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/01049 , H01L2924/0105 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/0665 , H01L2924/07802 , H01L2924/07811 , H01L2924/09701 , H01L2924/14 , H01L2924/15788 , H05K3/323 , H05K3/361 , H01L2924/00
Abstract: 実装部近傍の構成部品に対する熱衝撃を緩和させる。熱硬化性の接着剤層(23)を介して実装部品(18),(21)を熱加圧することにより実装部(20),(22)に実装部品(18),(21)を接続する熱圧着ヘッド3において、熱圧着ヘッド(3)は、ペルチェ素子(5)を有し、ペルチェ素子5は、実装部品(18),(21)を熱加圧する際に、実装部(20),(22)近傍に設けられた他の構成部品(15)と対峙する面側を冷却部(6)とする。
Abstract translation: 本发明在安装部件附近放松对构成部件的热冲击。 在通过经由热固性粘合剂层(23)加热并向安装部件(18,21)施加压力而将安装部件(18,21)连接到安装部件(20,22)的热压头(3)中,热压 头(3)具有珀耳帖元件(5)。 当珀尔帖元件(5)加热并向安装部件(18,21)施加压力时,与设置在安装部件(20,22)附近的另一构成部件(15)相对的表面侧被设定为冷却 第(6)部分。
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公开(公告)号:WO2011104826A1
公开(公告)日:2011-09-01
申请号:PCT/JP2010/052810
申请日:2010-02-24
Applicant: トヨタ自動車株式会社 , 水野 宏紀
Inventor: 水野 宏紀
CPC classification number: B23K1/0016 , B23K1/0012 , B23K1/002 , B23K1/005 , B23K1/0056 , B23K1/012 , B23K9/16 , B23K2201/14 , B23K2201/42 , B23K2203/10 , B23K2203/12 , B23K2203/18 , H01L21/4882 , H01L23/3735 , H01L23/473 , H01L24/32 , H01L24/48 , H01L24/75 , H01L24/83 , H01L2224/291 , H01L2224/2919 , H01L2224/32225 , H01L2224/32245 , H01L2224/4846 , H01L2224/48472 , H01L2224/73265 , H01L2224/7525 , H01L2224/75251 , H01L2224/75252 , H01L2224/75253 , H01L2224/75261 , H01L2224/75264 , H01L2224/755 , H01L2224/75502 , H01L2224/83192 , H01L2224/832 , H01L2224/8322 , H01L2224/83224 , H01L2224/83237 , H01L2224/83815 , H01L2924/00014 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01012 , H01L2924/01013 , H01L2924/01019 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01079 , H01L2924/0132 , H01L2924/0133 , H01L2924/014 , H01L2924/0665 , H01L2924/12042 , H01L2924/13055 , H01L2924/3025 , H01L2924/35121 , H01L2924/00 , H01L2924/01014 , H01L2224/45099 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 半導体モジュール(100)の製造方法では,互いに熱膨張率が異なる金属層(20)と冷却器(30)とを絶縁樹脂シート(40)によって一体とし,金属層(20)上に半田(15)を介して半導体素子(10)が載置されたワーク(1)を,リフロー炉(200)に搬入する。そして,その状態でリフロー炉(200)内を加熱し,半導体素子(10)を金属層(20)上に実装する。このとき,冷却器(30)の温度を,その熱膨張量が金属層(20)の熱膨張量と等しくなるように,金属層(20)との温度差を設けて加熱する。
Abstract translation: 在所公开的半导体模块(100)的制造方法中,具有不同的热膨胀系数的金属层(20)和冷却器(30)经由绝缘树脂片(40) )。 包括置于其上的焊料(15)放置在金属层(20)上的半导体元件(10)的工件(1)被馈送到回流炉(200)中。 在该状态下,在回流炉(200)中进行加热,从而将半导体元件(10)安装在金属层(20)上。 进行加热,使得冷却器(30)的温度和金属层(20)的温度相差一定量,使得冷却器(30)和金属层(20)经受相同量的热膨胀 作为对方
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9.METHOD OF CONTROLLING CONTACT LOAD IN ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING APPARATUS 审中-公开
Title translation: 控制电子元件安装装置中接触负载的方法公开(公告)号:WO2006025595A1
公开(公告)日:2006-03-09
申请号:PCT/JP2005/016376
申请日:2005-08-31
Applicant: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. , MORIKAWA, Makoto , HIRATA, Shuichi , UENO, Yasuharu , YOSHIDA, Hiroyuki , YOSHIDA, Noriaki
Inventor: HIRATA, Shuichi , UENO, Yasuharu , YOSHIDA, Hiroyuki , YOSHIDA, Noriaki
IPC: B23K3/08
CPC classification number: B23K3/087 , B23K37/047 , H01L2224/75502 , Y10T29/49004 , Y10T29/4913 , Y10T29/49133 , Y10T29/49137 , Y10T29/53187
Abstract: A method of controlling contact load in an apparatus for mounting electronic components on a substrate, in which a head is lowered at high speed to a slow down starting position where there is no risk that the electronic component makes contact with the substrate (S1), and from there the head is lowered at low speed until a predetermined target contact load is detected. The process of lowering the head at low speed includes the steps of moving down the head a predetermined distance (S3), measuring load after the step of moving down the head (S5), and determining whether the measured contact load has reached the target contact load (S9). The steps of moving down the head (S3) and measuring the load (S5) are repeated until the measured load reaches the target contact load. The actual contact load is precisely controlled to be close to a very small set level of target contact load. Accordingly, electronic components using low dielectric constant material are mounted without the risk of damage.
Abstract translation: 一种控制用于将电子部件安装在基板上的装置中的接触负载的方法,其中头部以高速降低到不会使电子部件与基板接触的风险的减速起始位置(S1), 并且从那里头部以低速降低直到检测到预定的目标接触负载。 低速降低头部的处理包括以下步骤:使头部向下移动预定距离(S3),测量头部向下移动步骤后的负载(S5),以及确定所测量的接触负载是否已达到目标接触 负载(S9)。 重复下降头部(S3)和测量负载(S5)的步骤,直到测量的负载达到目标接触负载。 实际接触负载被精确控制为接近目标接触负载的非常小的设定水平。 因此,使用低介电常数材料的电子部件安装而不会有损坏的危险。
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公开(公告)号:WO2004107432A1
公开(公告)日:2004-12-09
申请号:PCT/JP2003/006748
申请日:2003-05-29
Inventor: 佐藤 稔尚
IPC: H01L21/60
CPC classification number: B23K1/018 , B23K3/0623 , B23K2201/40 , B23Q15/22 , G05B2219/37407 , G05B2219/45235 , H01L21/67144 , H01L24/75 , H01L24/799 , H01L24/81 , H01L24/98 , H01L2224/05001 , H01L2224/05026 , H01L2224/05568 , H01L2224/16 , H01L2224/16225 , H01L2224/75 , H01L2224/75251 , H01L2224/75252 , H01L2224/75502 , H01L2224/75743 , H01L2224/81048 , H01L2224/8121 , H01L2224/81815 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01033 , H01L2924/01067 , H01L2924/01075 , H01L2924/3025 , H01L2924/3511 , H05K3/3436 , H05K3/3494 , H05K2203/163 , Y02P70/613 , H01L2224/05005 , H01L2224/05541 , H01L2224/05599 , H01L2224/05099
Abstract: 基板に対する熱的ストレスを抑制し、半田バンプを用いた電子部品の実装方法、取外し方法及びその装置を提供する。 半田バンプ114により基板36に半田付けする電子部品(ベアチップ32)の実装方法、取外し方法及びその装置であって、電子部品を移動させて半田バンプの基板に対する接触、又はツール(チャック部38)の電子部品への接触を検知し、前記接触を原点に電子部品及び基板の加熱温度を上昇させ、該加熱温度を最大加熱温度HTmに到達させるとともに、前記温度上昇に合わせて電子部品を移動させ、最大加熱温度に到達した位置から電子部品を基板の実装高さに移動させる構成である。
Abstract translation: 使用其中对板进行热应力控制的焊料凸块的电子部件的封装方法,因此,除去方法和装置。 通过焊料凸块(114)将电子部件(裸芯片(32))的封装方法焊接到板(36)上,因此,将电子部件移动并接触的方法和装置 检测到与电子部件的工具(卡盘部(38))的基板或触点的焊料凸起,电子部件和电路板的加热温度以触点为原点而升高,当最大加热温度HTm为 根据到达最大加热温度HTm的位置到板的封装高度的温度升高来移动电子部件。
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